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Testes de stress elétrico de transistores de ZnO e IGZO baseados em um novo procedimento de ensaio

Resumo

Esta proposta procura abordar a necessidade de transistores de óxido de metal de alto desempenho estáveis por períodos prolongados de polarização. O foco do projeto será o desenvolvimento de novos procedimentos de teste para caracterizar e medir a estabilidade de dispositivos funcionais,quantificando as implicações do processo de fabricação nas propriedades e na estabilidade dos dispositivos. Além disso, em paralelo ao estudo da estabilidade de TFTs de óxidos metálicos processados em solução, também testaremos TFTs de óxidos metálicos usando deposição por sputtering. Ao usar sputtering, estaremos estudando a estabilidade de dispositivos já amplamente estudados em escala industrial, tornando nossa pesquisa de relevância imediata. No entanto, ao estudar simultaneamente as estabilidades dos dispositivos processados por spray, também estaremos entendendo a estabilidade da próxima geração de materiais. No momento, a reprodutibilidade dos TFTs IGZO depositados por spray é muito menor do que a de seus homólogos depositados por sputtering, embora seja esperado que isso melhore nos próximos meses e anos à medida que a tecnologia amadurece. O programa de trabalho será dividido em 4 pacotes de trabalho com atividade antes e após a visita ao Brasil. (AU)

Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
KUMAR, DINESH; GOMES, TIAGO CARNEIRO; ALVES, NERI; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS; SMITH, GRAHAM C.; KETTLE, JEFF. UV Phototransistors-Based Upon Spray Coated and Sputter Deposited ZnO TFTs. IEEE SENSORS JOURNAL, v. 20, n. 14, p. 7532-7539, JULY15, 2020. Citações Web of Science: 0.
GOMES, TIAGO C.; KUMAR, DINESH; ALVES, NERI; KETTLE, JEFF; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS. The Effect of Anodization Parameters on the Aluminum Oxide Dielectric Layer of Thin-Film Transistors. JOVE-JOURNAL OF VISUALIZED EXPERIMENTS, n. 159 MAY 2020. Citações Web of Science: 0.

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