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Resolução Atômica em Microscopia de Força Atômica (AFM)

Resumo

Dentre as técnicas de microscopia com resolução atômica para análises de superfícies, destacam-se o conjunto de técnicas conhecidas de forma geral como microscopias de ponta de prova ("scanning probe microscopy" - SPM), dentre as quais as mais conhecidas são a microscopia de tunelamento (STM) e a microscopia de força atômica (AFM). A capacidade de realizar medidas de AFM com resolução subatômica ocorreu mais recentemente, e desenvolvimentos teóricos de modelagem e análise dessas imagens são assunto de interesse corrente. Neste projeto, utilizaremos uma combinação de técnicas teóricas (desde métodos ab initio de estrutura eletrônica a resultados fundamentais em mecânica estatística de não-equilíbrio) para desenvolver ferramentas de análise de imagens de AFM em resolução atômica ou subatômica, com foco particular no modo de "força lateral" ou FFM ("friction force microscopy"). (AU)

Matéria(s) publicada(s) na Revista Pesquisa FAPESP sobre o auxílio::
O giro do grafeno