Resolução Atômica em Microscopia de Força Atômica (AFM)

• Processo: 20/06257-7
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Pesquisador Visitante - Brasil
• Vigência: 01 de outubro de 2020 - 30 de setembro de 2021
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Adalberto Fazzio
• Beneficiário: Adalberto Fazzio
• Pesquisador visitante: Rodrigo Barbosa Capaz
• Inst. do pesquisador visitante: Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ). Instituto de Física (IF), Brasil
• Instituição Sede: Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovações (Brasil). Campinas , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 17/02317-2 - Interfaces em materiais: propriedades eletrônicas, magnéticas, estruturais e de transporte, AP.TEM
• Assunto(s): Materiais nanoestruturados
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: atomic force microscopy | Nanomateriais

Resumo

Dentre as técnicas de microscopia com resolução atômica para análises de superfícies, destacam-se o conjunto de técnicas conhecidas de forma geral como microscopias de ponta de prova ("scanning probe microscopy" - SPM), dentre as quais as mais conhecidas são a microscopia de tunelamento (STM) e a microscopia de força atômica (AFM). A capacidade de realizar medidas de AFM com resolução subatômica ocorreu mais recentemente, e desenvolvimentos teóricos de modelagem e análise dessas imagens são assunto de interesse corrente. Neste projeto, utilizaremos uma combinação de técnicas teóricas (desde métodos ab initio de estrutura eletrônica a resultados fundamentais em mecânica estatística de não-equilíbrio) para desenvolver ferramentas de análise de imagens de AFM em resolução atômica ou subatômica, com foco particular no modo de "força lateral" ou FFM ("friction force microscopy"). (AU)