Materiais oticamente ativos estudados por Microscopia de Varredura de Tunelamento

• Processo: 21/06893-3
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Jovens Pesquisadores - Fase 2
• Data de Início da vigência: 01 de fevereiro de 2022
• Data de Término da vigência: 31 de janeiro de 2027
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Luiz Fernando Zagonel
• Beneficiário: Luiz Fernando Zagonel
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Município da Instituição Sede: Campinas
• Vinculado ao auxílio: 14/23399-9 - Heteroestruturas em nanofios semicondutores: Emissores de luz nanométricos estudados por Microscopia de Varredura de Tunelamento, AP.JP
• Bolsa(s) vinculada(s): 25/19695-6 - Materiais Luminescentes estudados por técnicas de amplificação por ponta em um Microscópio de varredura de tunelamento, BP.PD; 24/17535-9 - Apoio às atividades de Pesquisa do projeto Materiais opticamente ativos estudados por microscopia de varredura de tunelamento, BP.TT; 23/04168-5 - Emissores de fótons individuais baseados em defeitos no hBN, BP.MS; + mais bolsas vinculadas 23/00553-1 - Materiais opticamente ativos estudados por Microscopia de Varredura de Tunelamento, BP.PD; 23/00090-1 - Controle de Luminescência em Calcogenetos de Metais de Transição, BP.DD; 22/06645-2 - Identificação de inomogeneidades morfológicas e espectrais em perovskitas via luminescência e topografia, BP.MS - menos bolsas vinculadas
• Assunto(s): Espectroscopia eletrônica Espectroscopia óptica Materiais bidimensionais Microscopia Microscopia eletrônica de varredura Semicondutores Óptica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Espectroscopia Eletronica | Espectroscopia ótica | materiais 2D | microscopia | semicondutores | ótica

Resumo

Este projeto visa consolidar um grupo de pesquisa focado nas propriedades ópticas e eletrônicas de materiais opticamente ativos (absorvedores e emissores) estudados por Microscopia de Varredura de Tunelamento (STM) associada a um dispositivo óptico de alto desempenho. Este dispositivo, que foi patenteado pela nossa equipe, permite detectar a emissão de luz induzida pela corrente de tunelamento e também a injeção de luz nas proximidades da ponta do STM. Com essa infraestrutura, é possível estudar a morfologia, estrutura eletrônica e emissão de luz de nanoestruturas individuais com alta resolução espacial e espectral. Os objetivos desta proposta são dar continuidade às atividades de pesquisa em materiais bidimensionais (2D) que já estudamos, h-BN e TMDs, e iniciar pesquisas em outros materiais, em particular em perovskitas. Estaremos atentos a problemas tecnologicamente relevantes relativos a materiais que têm potencial aplicação como emissores e absorvedores de luz em dispositivos futuros, como células solares e diodos emissores de luz. Esses problemas incluem a determinação de alinhamentos e bordas de banda, efeitos de substrato, defeitos, alargamento de linha e outros com impacto direto no desempenho do dispositivo. (AU)

Publicações científicas

(7)

(As publicações científicas contidas nesta página são originárias da Web of Science ou da SciELO, cujos autores mencionaram números dos processos FAPESP concedidos a Pesquisadores Responsáveis e Beneficiários, sejam ou não autores das publicações. Sua coleta é automática e realizada diretamente naquelas bases bibliométricas)

COSTA, FABIO J. R.; BRITO, THIAGO G-L; BARCELOS, INGRID D.; ZAGONEL, LUIZ FERNANDO. . Nanotechnology, v. 34, n. 38, p. 10-pg., 2023-09-17. (21/06893-3, 19/14017-9)

SCALON, LUCAS; NOGUEIRA, CHARLES ALVES; FONSECA, ANDRE FELIPE VALE; MARCHEZI, PAULO E.; MORAL, RAPHAEL FERNANDO; GRANCINI, GIULIA; KODALLE, TIM; SUTTER-FELLA, CAROLIN M.; OLIVEIRA, CAIO COSTA; ZAGONEL, LUIZ F.; et al. . ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, v. 16, n. 38, p. 11-pg., 2024-09-13. (21/06893-3, 20/04406-5, 23/10395-4, 18/01669-5, 22/06645-2, 17/11986-5)

SOUSA, CLAUDEVAN A.; BONATO, LUIZ G.; GONCALVES, EDUARDO S.; ALO, ARTHUR; VALE, BRENER R. C.; ALMEIDA, DIOGO B.; NOGUEIRA, ANA F.; ZAGONEL, LUIZ F.; PADILHA, LAZARO A.. . ACS PHOTONICS, v. 10, n. 5, p. 7-pg., 2023-04-20. (17/11986-5, 20/06956-2, 22/06267-8, 18/15574-6, 21/13262-0, 18/08988-9, 20/16077-6, 19/22576-8, 21/06893-3, 18/25339-4)

COSTA, FABIO J. R.; ARRIBAS, DANIEL; BRITO, THIAGO G. L.; CHENG, TIN S.; BRADFORD, JONATHAN; THOMPSON, AMELIA; SAYWELL, ALEX; MELLOR, CHRISTOPHER J.; BETON, PETER H.; NOVIKOV, SERGEI V.; et al. . ACS NANO, v. 19, n. 40, p. 11-pg., 2025-10-02. (21/06893-3)

PENA ROMAN, RICARDO JAVIER; AUAD, YVES; GRASSO, LUCAS; PADILHA, LAZARO A.; ALVAREZ, FERNANDO; BARCELOS, INGRID DAVID; KOCIAK, MATHIEU; ZAGONEL, LUIZ FERNANDO. . Review of Scientific Instruments, v. 93, n. 4, p. 18-pg., 2022-04-01. (21/06893-3, 18/08543-7, 14/23399-9)

BRITO, THIAGO G. L.; COSTA, FABIO J. R.; CECCATTO, ALISSON; DE ALMEIDA, CHARLES A. N.; DE SIERVO, ABNER; COUTO JR, ODILON D. D.; BARCELOS, INGRID DAVID; ZAGONEL, LUIZ FERNANDO. . Nanotechnology, v. 36, n. 5, p. 11-pg., 2025-02-03. (21/06803-4, 21/06893-3, 21/04411-1, 22/12929-3)

CORDEIRO DE OLIVEIRA, WESLEY KARDEX; RUANO MERCHAN, CATALINA; REIS, LUANA A.; PARK, JEONG WOO; BAE, WAN KI; PADILHA, LAZARO A.; ZAGONEL, LUIZ FERNANDO. . Journal of Physical Chemistry C, v. 129, n. 33, p. 9-pg., 2025-08-08. (21/06803-4, 21/04411-1, 21/06893-3, 22/12929-3)