EMU tecnológico: aquisição de um sistema de microscopia óptica de varredura de campo próximo acoplado com microscopia de força atômica e espectroscopia Raman aprimorada por ponta para imageamento químico e físico em micro e nanoescala

• Processo: 22/11544-0
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa Infraestrutura - Tecnologia e Inovação
• Data de Início da vigência: 01 de junho de 2023
• Data de Término da vigência: 31 de maio de 2030
• Área do conhecimento: Ciências da Saúde - Odontologia
• Pesquisador responsável: Rodrigo Savio Pessoa
• Beneficiário: Rodrigo Savio Pessoa
• Instituição Sede: Divisão de Ciências Fundamentais (IEF). Instituto Tecnológico de Aeronáutica (ITA). Ministério da Defesa (Brasil). São José dos Campos , SP, Brasil
• Pesquisadores associados: Cristiane Yumi Koga Ito ; Homero Santiago Maciel ; Jose Humberto Dias da Silva ; Konstantin Georgiev Kostov ; Vladimir Jesus Trava-Airoldi
• Bolsa(s) vinculada(s): 24/15258-8 - Treinamento técnico na técnica SNOM acoplada com AFM/TERS visando o imageamento multimodal da ação do plasma ou da água ativada à plasma na parede celular e de estruturas de microrganismos ou células animais, BP.TT
• Assunto(s): Microbiologia aplicada Nanotecnologia Microscopia de força atômica Espectroscopia Raman com ponta aprimorada Imageamento Escala nanométrica Microscopia óptica Aquisição de equipamentos Equipamentos multiusuários Infraestrutura de pesquisa
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Espectroscopia Raman aprimorada por ponta | Imageamento físico e químico em nanoescala | Microbiologia | microscopia de força atomica | Microscopia óptica de varredura de campo próximo | Nanotecnologia | Microbiologia Aplicada

Resumo

Ao acoplar a espectroscopia óptica confocal com a microscopia de força atômica (AFM) e conceitos da microscopia de varredura de campo próximo, da qual destaca-se a espectroscopia Raman aprimorada por ponta (TERS), membros fundamentais da próxima geração de ferramentas de imagem multimodal para caracterização de materiais está surgindo. A espectroscopia a laser e a AFM tornaram-se ferramentas insubstituíveis em muitos campos da ciência e tecnologia. A técnica AFM fornece propriedades elétricas, mecânicas e outras propriedades físicas com resolução em nanoescala, mas não fornece informações sobre a especificidade química. Por outro lado, a espectroscopia Raman, preenche essa lacuna, mas tem uma limitação fundamental - a resolução espacial. A integração de ambas as técnicas supera essa lacuna. Essas ferramentas inovadoras vêm sendo aplicadas com grande impacto no campo da física da matéria condensada, e em comunidades mais amplas, incluindo química, odontologia, medicina e vários campos da engenharia. A crescente quantidade de imagens e dados inéditos disponíveis beneficiarão a criação de plataformas multidisciplinares eficientes para exibir, organizar e comparar resultados entre diferentes grupos de pesquisa acadêmicos ou não-acadêmicos. No geral, a pesquisa utilizando a microscopia óptica de varredura de campo próximo (SNOM) demonstra que a ferramenta é indispensável na futura exploração de diferentes características nanoscópicas dos materiais, nanoestruturas ou nanodispositivos. Neste contexto, esta proposta de equipamento multiusuário visa a aquisição de um sistema SNOM acoplado com AFM/TERS com o objetivo de alavancar as pesquisas entre os projetos temáticos FAPESP associados das instituições ITA, UNESP e INPE, e, além destes, de outros projetos de grupos de pesquisa acadêmicos ou não-acadêmicos do Estado de São Paulo. É importante destacar que tal equipamento será o primeiro a ser implementado no Estado de São Paulo e possui uma característica forte em termos de inovação e tecnologia de ponta, possibilitando a nucleação de projetos de pesquisa inovadores na industria, startups e na própria academia. (AU)

Publicações científicas

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

NETO, NILTON F. AZEVEDO; MARQUES, SAMUEL A.; MIRANDA, FELIPE S.; JUNIOR, PEDRO W. P. MOREIRA; PEREIRA, ANDRE L. J.; CONSTANTINO, CARLOS J. L.; DA SILVA, JOSE H. DIAS; PESSOA, RODRIGO S.. Sputter deposited silver film as an alternative tool for Raman signal enhancement in plasma-activated water. VIBRATIONAL SPECTROSCOPY, v. 136, p. 8-pg., 2024-12-19. (22/11544-0, 23/02268-2, 21/14181-3, 19/05856-7, 18/22214-6, 23/02273-6)