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Estudo da superfície de metais e ligas por espectroscopia de elétrons e radiação síncrotron

Processo: 01/14076-1
Linha de fomento:Auxílio à Pesquisa - Temático
Vigência: 01 de maio de 2002 - 31 de janeiro de 2007
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Richard Landers
Beneficiário:Richard Landers
Instituição-sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Bolsa(s) vinculada(s):05/54993-4 - Estudo de filmes de óxidos ordenados sobre monocristais metálicos, BP.DR
02/10612-9 - Estudo da estrutura eletrônica e geometria da superfície de ligas metálicas de Sb e In sobre PD (111) e Pt (111), BP.PD
Assunto(s):Radiação síncrotron  Metais  Ligas metálicas  Espectroscopia fotoeletrônica 

Resumo

O arranjo atômico e a estrutura eletrônica da região superficial de um sólido pode ser muito diferente daquela do interior do material, no entanto, é esta região que irá ditar muitas das propriedades importantes dos materiais. É portanto surpreendente descobrir que até 1998 apenas em tomo de 1000 sistemas superficiais haviam sido bem caracterizadas quanto a estes dois aspectos; a situação é particularmente difícil para ligas metálicas em geral e especialmente para ligas superficiais bidimencionais. Neste projeto pretende se primeiramente melhorar as condições experimentais existentes no IFGW e no LNLS para o estudo das superfícies de metais e ligas usando diferentes espectroscopias de elétrons (XPS, LEED, PD e RHEED) e usar esta infra-estrutura para estudar ligas baseadas em metais nobres e metais de transição que teriam propriedades catalíticas potencialmente interessantes. Também será feito um esforço para entender as propriedades surfactantes de alguns metais sp (In, Sn, e Sb) sobre os metais nobres e alguns metais de transição. Paralelamente serão estudados problemas fundamentais relacionados com a emissão de fotoelétrons e elétrons Auger destes materiais para tentar entender melhor fenômenos como blindagem (screening) e a relaxação de átomos com a criação de um buraco de caroço. Para alcançar estes objetivos será: a) importar e instalar um novo manipulador de amostras com dois eixos de rotação motorizados para medidas de difração de fotoelétrons; b) montar um sistema de analise por fotoelétrons com resolução angular; c) instalar um sistema de aquisição de dados para experiências de difração de elétrons lentos (LEED); d) montar um sistema para estudar o crescimento de camadas epitaxiais por RHEED obtendo parâmetros importantes com distancias interatomicas e rugosidade a nível quase atômico; e) estudar ligas metálicas formadas sobre substratos monocristalinos de metais nobres e metais com a banda "d" quase cheia (Ni, Pd, e Pt) do ponto de vista de estrutura atômica e estrutura eletrônica; f) estudar o efeito de coberturas baixas de metais "sp" como In, Sn e Sb no crescimento dos metais do item anterior para entender eventuais propriedades sulfactantes deste elementos. (AU)