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Análise estrutural e microestrutural de materiais por difração por policristais

Processo: 02/11735-7
Linha de fomento:Auxílio à Pesquisa - Regular
Vigência: 01 de julho de 2003 - 30 de junho de 2004
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Juan Alfredo Guevara Carrió
Beneficiário:Juan Alfredo Guevara Carrió
Instituição-sede: Unidade de Ensino de Americana. Centro Universitário Salesiano de São Paulo (UNISAL). Liceu Coração de Jesus. Americana , SP, Brasil
Assunto(s):Cristalografia  Difração por raios X  Método de Rietveld 

Resumo

No presente projeto pretende-se realizar trabalhos de análise estrutural que requerem o uso avançado da difração de raios X, como a aplicação do método de Rietveld (MR), avaliação das características microestruturais, e/ou análise quantitativa de fases. O projeto forma parte de uma colaboração em andamento entre o Centro UNISAL- Americana e o LIEC do IQ-Araraquara, e permitirá a implementação da análise estrutural por DRX em materiais poli-cristalinos em um grupo de pesquisa emergente, utilizando novos recursos computacionais e os recursos experimentais já disponíveis na região. A parte computacional será realizada com os recursos a serem implementados no Centro UNISAL. Os materiais a serem analisados estão sendo objeto de estudos no LIEC-Araraquara e são preparados por síntese química, mecânica ou mistura de óxidos. O LIEC/UNESP e o IQ possuem os equipamentos necessários para o desenvolvimento experimental do trabalho. Planeja-se orientar e treinar estudantes nos métodos de difração em pó e no MR. (AU)