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Retardo mental idiopatico: investigacao de alteracoes em genes ligados ao cromossomo x e nas regioes subtelomericas.

Resumo

A causa do retardo mental (RM), presente em cerca de 3% na população mundial, não é conhecida na maioria dos casos. Há uma grande heterogeneidade quanto as causas do RM, sendo freqüentes as aberrações cromossômicas, entre elas as aneuploidias, aberrações estruturais como duplicações, microdeleções e rearranjos crípticos, erros de imprinting genômico e expansões de microssatélites de trinucleotídeos, além de intercorrências perinatais e pós-natais. O RM ocorre mais freqüentemente em homens do que em mulheres evidenciando o envolvimento de genes recessivos ligados ao X na diferenciação e função cerebral, o que demonstra a importância do estudo dos genes nesse cromossomo. Além disso, estudos recentes indicam que rearranjos cromossômicos que afetam a região telomérica de autossomos são responsáveis por até 7% dos casos de RM de moderado a graves. No presente trabalho, será estudada uma amostra de pacientes com RM idiopático que já passou por avaliação genético-clínica detalhada, tendo sido excluídas alterações citogenéticas e mutação no gene FMRJ. O presente trabalho tem por objetivo realizar a análise molecular de genes do cromossomo X, associados ao de RM ligado ao X não sindrômico e a avaliação das regiões subteloméricas por meio da técnica de MLPA. Uma vez que cerca de 25 a 40% dos pacientes com RM normalmente permanecem sem diagnóstico, os resultados obtidos neste trabalho auxiliarão a compreender a etiologia do RM. Com essa investigação pretendemos obter informações sobre a incidência dessas alterações na população brasileira, sobre o padrão de herança da mutação envolvida, auxiliar tia elucidação do papel dessa mutação na patogênese da doença, identificar novos loci com potencial implicação nas formas familiares de RM e assim ampliar o conhecimento atual sobre a etiologia da doença. (AU)