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Recozimento simulado com avaliação incompleta da função objetivo aplicado à tomografia por impedância elétrica

Processo: 10/19380-0
Linha de fomento:Auxílio à Pesquisa - Regular
Vigência: 01 de abril de 2011 - 30 de junho de 2013
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia Biomédica - Bioengenharia
Pesquisador responsável:Thiago de Castro Martins
Beneficiário:Thiago de Castro Martins
Instituição-sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Pesq. associados:Marcos de Sales Guerra Tsuzuki ; Raul Gonzalez Lima
Auxílios(s) vinculado(s):12/51219-0 - Minimum deviation zone of parametric sculpture surfaces in automotive body manufacturing, AP.R
Assunto(s):Tomografia  Impedância elétrica  Algoritmos  Método dos elementos finitos 

Resumo

No projeto de pesquisa FAPESP 2009/07173-2 foi iniciado o desenvolvimento deum algoritmo de reconstrução de imagem de Tomografia por Impedância Elétrica (TIA) baseadono Recozimento Simulado. Como forma de reduzir o custo computacional do processode reconstrução, foi criado um processo de avaliação \emph{parcial} da função objetivo quegarante limites superiores para a probabilidade de desvio do algoritmo (quando comparadoao processo com avaliação completa). Os resultados iniciais do projeto, mostraram que a avaliação parcial da função objetivo tem um grande impacto no custo computacional do processo,sem prejudicar a eficácia do mesmo em reconstruir imagens de TIA. Neste projeto, um aprimoramentodeste processo será apresentado, baseado na formulação de uma nova função objetivo para o Recozimento Simulado. Esta nova função, baseada no erro quadrático total de um sistema super-determinado, aprimora as garantias de convergência da função original e mitiga potenciais problema de escalabilidade. (AU)

Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
MARTINS, THIAGO DE CASTRO; GUERRA TSUZUKI, MARCOS DE SALES; BUENO DE CAMARGO, ERICK DARIO LEON; LIMA, RAUL GONZALEZ; DE MOURA, FERNANDO SILVA; PASSOS AMATO, MARCELO BRITO. Interval Simulated Annealing applied to Electrical Impedance Tomography image reconstruction with fast objective function evaluation. COMPUTERS & MATHEMATICS WITH APPLICATIONS, v. 72, n. 5, p. 1230-1243, SEP 2016. Citações Web of Science: 2.
MARTINS, THIAGO DE CASTRO; LEON BUENO DE CAMARGO, ERICK DARIO; LIMA, RAUL GONZALEZ; PASSOS AMATO, MARCELO BRITTO; GUERRA TSUZUKI, MARCOS DE SALES. Image Reconstruction Using Interval Simulated Annealing in Electrical Impedance Tomography. IEEE Transactions on Biomedical Engineering, v. 59, n. 7, p. 1861-1870, JUL 2012. Citações Web of Science: 19.

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