Aplicação de métodos físicos para fabricação de filmes finos, nanoestruturas e dispositivos

• Processo: 07/58348-1
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Jovens Pesquisadores
• Data de Início da vigência: 01 de dezembro de 2007
• Data de Término da vigência: 30 de novembro de 2009
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Ednan Joanni
• Beneficiário: Ednan Joanni
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Município da Instituição Sede: Araraquara
• Bolsa(s) vinculada(s): 07/59440-9 - Aplicacao de metodos fisicos para fabricacao de filmes finos, nanoestruturas e dispositivos., BP.JP
• Assunto(s): Deposição de filmes finos Materiais nanoestruturados Pulverização catódica Deposição por laser pulsado Semicondutores Dielétricos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Deposicao Por Laser Pulsado | Dispositivos | Filmes Finos | Nanoestruturas | Sputtering
• Publicação FAPESP: https://media.fapesp.br/bv/uploads/pdfs/Investindo...pesquisadores_413_288_288.pdf

Resumo

Este projeto tem como objetivos o uso das técnicas de 'sputtering' e deposição por laser pulsado para a fabricação de filmes finos, nanoestruturas e dispositivos. Esses métodos de deposição serão utilizados para a obtenção de filmes metálicos, dielétricos e semicondutores, a síntese de nanoestruturas de óxidos semicondutores, bem como a construção e teste de dispositivos usando esses filmes e nanoestruturas. Os parâmetros experimentais de cada um esses processos serão manipulados para estudar o seu efeito sobre a composição, dimensões e morfologia das nanoestruturas e de filmes finos depositados sobre diferentes substratos. Os nanofios e os filmes finos serão caracterizados por microscopia de força atômica (AFM), microscopia eletrônica de varredura (FE-SEM, EDS), difração e raios-x (XRD), microscopia eletrônica de transmissão (TEM, HRTEM, WDS), espectroscopia de fotoelétrons de raios-x (XPS) bem como por medidas elétricas e ópticas. Serão fabricados e testados dispositivos (capacitores, varistores, sensores de gases e células solares) que irão explorar as propriedades ópticas e elétricas dos materiais, tanto na forma de filmes como de camadas nanoestruturadas. (AU)