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5o. Congresso Brasileiro de Metrologia

Processo: 09/13918-0
Linha de fomento:Auxílio à Pesquisa - Organização de Reunião Científica
Vigência: 09 de novembro de 2009 - 13 de novembro de 2009
Área do conhecimento:Interdisciplinar
Pesquisador responsável:Linda Viola Ehlin Caldas
Beneficiário:Linda Viola Ehlin Caldas
Instituição-sede: Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Estatística  Tecnologia  Metrologia  Instrumentação 

Resumo

A programação do Congresso possuirá um planejamento bem definido, compreendendo:*Palestras especializadas, a serem proferidas por personalidades de renome internacional, convidadas pelo Comitê Técnico-Científico:o- Metrologia para Competitividade em Áreas EstratégicasPalestrante: João Jornada - Presidente do INMETRO o- Palestrante: Robert Kaarls - Presidente do CCQM oSMQS - Novos Paradigmas do Controle Metrológico da Qualidade e dos Sistemas de Faturamento das Redes de Telecomunicações BrasileirasPalestrante: José Ângelo Amado - Superintendência de Fiscalização da ANATEL o- NanometrologiaPalestrante: Especialista da Mitutoyo (Japão) *Sessões plenárias e mesas redondas em temas específicos; o-Comunicações QuânticasPalestrante: Jean Pierre von der Weid - PUC-Rio/Cetuc o- Absolute Measurements of Thermal ConductivityPalestrante: Georges Bonier - Former Deputy Director of LNE-INM (Françao- Gestão Metrológica de Equipamentos no Ambiente HospitalarPalestrante: Heder Murari - ANVISA o- As Tendências do Desenvolvimento da Metrologia Legal na EuropaPalestrante: Hartmut Apel *Mesa Redonda: Metrologia em Biotecnologia*Apresentações de trabalhos técnicos e contribuições científicas; oNew trends in optical radiation measurements: Jean BastieoLEDs - Iluminação do Futuro: Hans Peter H. GrieneisenoAbsolute Frequency Measurement of 40Ca+ in a Paul Trap: Giovanni Daniele RoveraoDevelopment of an Optical Atomic Clock Based on Cold Calcium Atoms in Brazil: Flávio Caldas da CruzoAplicações do Laser na Área Biomédica: Ester Maria NicolaoA Magia Negra da Avaliação Metrológica de Brancura:Robert HirschleroAvaliação Metrológica para a Estamparia Digital: Lincon Cunha Lopes** workshops; ** cursos em temas previamente anunciados; ** sessões técnicas para debates em grupo; ** reuniões técnicas de fóruns específicos congregando especialistas nacionais e internacionais. MetroExpo2009 : Exposição (AU)