| Processo: | 11/22098-7 |
| Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Regular |
| Data de Início da vigência: | 01 de março de 2012 |
| Data de Término da vigência: | 28 de fevereiro de 2014 |
| Área do conhecimento: | Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos |
| Pesquisador responsável: | Paulo Noronha Lisboa Filho |
| Beneficiário: | Paulo Noronha Lisboa Filho |
| Instituição Sede: | Faculdade de Ciências (FC). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Bauru. Bauru , SP, Brasil |
| Município da Instituição Sede: | Bauru |
| Assunto(s): | Materiais nanoestruturados Semicondutores Dióxido de titânio |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | nanoestruturas | Propriedades Eletrônicas | Propriedades Ópticas | semicondutores | Cerâmicos |
Resumo
Nanotubos de dióxido de titânio (TiO2) têm sido apontados com a tecnologia mais promissora em diversas aplicações, destacando-se aquelas em conversão de energia solar e aplicações ambientais como fotocatalíticos, principalmente por ser um óxido de baixo custo, quimicamente estável e ambientalmente inofensivo. O TiO2 possui um gap largo, porém não absorve na região da luz visível. Ao contrario, disso é a luz UV responsável pela geração dos pares elétron-buraco, as quais induzem reações químicas na superfície do material. Neste sentido, existe um grande interesse em aumentar as aplicações do TiO2 e isso pode ser viável através de dopagens com terras-raras, as quais favorecem as absorções em regiões com comprimentos de onda maiores. Este projeto propõe a preparação e estudo das propriedades ópticas e da estrutura eletrônica de nanotubos de TiO2 dopado com diferentes terras raras (Ce, Pr e Gd). Os materiais serão sintetizados através de dois métodos: a síntese por template e por síntese química. Os espécimes serão caracterizados na sua estrutura por difração de raio X (DRX) associada ao método de Rietveld, além de estudos morfológicos realizados por microscopia eletrônica de transmissão (MET). A análise química dos espécimes será realizada por espectroscopia na região do infravermelho (IRFT) e por espectroscopia de fotoemissão de raios X (XPS). Para a análise da estrutura eletrônica e dos processos de transferência de carga serão empregadas as técnicas de espectroscopia de fotoelétrons de ultravioleta (UPS) e espectroscopia de absorção na região do UV-Vís. (AU)
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