Richard Louis Anderson | University of Vermont - Estados Unidos

• Processo: 92/04891-9
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Pesquisador Visitante - Internacional
• Data de Início da vigência: 20 de agosto de 1993
• Data de Término da vigência: 10 de setembro de 1993
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia Elétrica - Medidas Elétricas, Magnéticas e Eletrônicas, Instrumentação
• Pesquisador responsável: Carlos Ignacio Zamitti Mammana
• Beneficiário: Carlos Ignacio Zamitti Mammana
• Pesquisador visitante: Richard Louis Anderson
• Instituição do Pesquisador Visitante: University of Vermont (UVM), Estados Unidos
• Instituição Sede: Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação (FEEC). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Detecção de falhas Baixa temperatura Semicondutores Intercâmbio de pesquisadores
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Analise De Falhas | Baixas Temperaturas | Dispositivos Semicondutores

Resumo

Pesquisa em dispositivos semicondutores, tais cano diodos, capacitores, transistores bipolares, MOS e MESFETs em silício, GaAs e outros materiais semicondutores, para operação a temperaturas até 13 K. Em temperaturas baixas a maior mobilidade dos portadores permite ampliar a faixa nas altas frequências e obter chaveamento mais rápido, sendo reduzido o ruído térmico e minimizada a potência consumida. O estudo do comportamento em baixas temperaturas contribui também para a compreensão dos mecanismos de falhas em circuitos integrados, de grande interesse para o Instituto de Microeletrônica. Serão, também estudadas dispositivos MOS de silício monocristalino com porta de óxidos metálicos semicondutores, em continuação a projeto de cooperação anterior, entre o IM/CTI, a UNICAMP e a UVM, especialmente a pesquisa da interface entre esses óxidos e o silício. (AU)