| Processo: | 12/16158-0 |
| Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Regular |
| Data de Início da vigência: | 01 de dezembro de 2012 |
| Data de Término da vigência: | 30 de novembro de 2014 |
| Área do conhecimento: | Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos |
| Pesquisador responsável: | Marystela Ferreira |
| Beneficiário: | Marystela Ferreira |
| Instituição Sede: | Centro de Ciências e Tecnologias para a Sustentabilidade (CCTS). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). Sorocaba , SP, Brasil |
| Município da Instituição Sede: | Sorocaba |
| Assunto(s): | Materiais nanoestruturados Polímeros (materiais) Filmes finos Polianilina Argilas Sensores Metais pesados Técnica de automontagem |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | argila | filmes automontados | filmes LB | Metais Pesados | polímero | sensores eletroquímicos | materiais |
Resumo
O projeto visa ao desenvolvimento de sensores para detectar metais pesados, baseados em filmes nanoestruturados obtidos pelas técnicas de Langmuir-Blodgett (LB) e automontagem camada por camada (do inglês, Layer-by-Layer, LbL). As unidades sensoriais serão compostas de filmes ultrafinos de polímeros condutores funcionalizados com argilas (nanoclays), pré-depositados sobre substratos sólidos. A flexibilidade do controle da espessura dos filmes, oferecida por essas técnicas, poderá ser explorada para atingir baixos tempos de resposta das unidades sensoriais. Os filmes serão fabricados preferencialmente de polianilina (PAni) e argilas do grupo das esmectitas, ou montmorilonita (MMT). Dependendo da técnica de fabricação do filme os materiais serão co-espalhados, ou utilizados na forma de bicamadas. Essas unidades serão imersas em diferentes sistemas líquidos e a aquisição e caracterização dos resultados serão realizadas por medidas eletroquímicas. Os filmes mistos de polímeros com argilas, e sua interação com os analitos, serão estudados com técnicas espectroscópicas, como absorção no UV-Vis, FTIR e Raman, eletroquímicas (voltametria cíclica), microscopia de força atômica (AFM), microscopia eletrônica de varredura (MEV) e difração de raios X (DRX). Os filmes também serão caracterizados por ressonância de plásmons de superfície (Surface Plasmon Resonance (SPR)), que permite determinar sua espessura e investigar interações moleculares entre os materiais orgânicos e inorgânicos. (AU)
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