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Estudo quantitativo das características eletrônicas de junções metal-nanofios de óxidos metálicos

Resumo

A presente proposta tem como finalidade o estudo das características eletrônicas de interfaces metal-nanofios usadas na definição de dispositivos nanométricos, notadamente nanofios e nanofitas construídos a partir de óxidos metálicos. Um ponto singular para todos estes esforços é a definição de contatos elétricos que permitam o acesso às propriedades dos nanofios. A presença de desordem superficial levando à localização e redistribuição de cargas é um fator que contribui de forma decisiva para as propriedades dos contatos elétricos nas amostras. Apesar disso, pouca informação experimental sobre a formação das junções metal-semicondutor (nanofios) estão disponíveis e assim, esta proposta de pesquisa pretende avançar nesta área sintetizando nanofios de SnO2 puros e dopados e investigar as características do transporte nestas amostras e sua relação com as características das interfaces. Como contribuição à área, espera-se estudar os mecanismos de transporte predominantes nas junções considerando a origem e influência dos estados de interface e não uniformidades na formação da barreira Schottky nestes dispositivos. Dada a experiência acumulada na fabricação e estudo de materiais baseados em óxidos metálicos e a infra-estrutura disponível, o investimento associado a esta proposta é baixo enquanto que os resultados esperados podem ter um bom impacto na literatura, tendo-se em vista a necessidade de um estudo quantitativo com relação à formação de contatos e suas propriedades em nanofios. (AU)

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Publicações científicas (6)
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
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