Auxílio à pesquisa 13/21569-1 - Óptica eletrônica, Óptica e fotônica - BV FAPESP
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Luz e interferência em dispositivos semicondutores para medidas óticas e análise do rendimento (LISA)

Processo: 13/21569-1
Modalidade de apoio:Auxílio à Pesquisa - Regular
Data de Início da vigência: 01 de junho de 2014
Data de Término da vigência: 30 de novembro de 2016
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Filippo Ghiglieno
Beneficiário:Filippo Ghiglieno
Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
Pesquisadores associados:Adenilson José Chiquito
Assunto(s):Óptica eletrônica  Óptica e fotônica  Semicondutores 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:integrated optics | Micro-nano characterization | nanowires | Photonics devices | Thermal effects in optoelectronics devices | Integrated optics and photonics

Resumo

Dispositivos fotônicos semicondutores ativos e passivos são largamente utilizados para gerar e processar luz, em aplicações médicas, em caracterização de materiais, em comunicação ótica, em experimentos de ótica quântica e não-linear. Uma especificação importante para esses dispositivos são as perdas por espalhamento. Luz coerente se propagando por uma guia de onda pode ser muito influenciada por defeitos no processo tecnológico, o que pode reduzir a performance esperada. Melhorando uma técnica não-destrutiva desenvolvida na Universidade Denis Diderot (Paris 7, França) com a última geração de componentes de telecomunicação, eu proponho implementar na Universidade Federal de São Carlos (UFSCar) uma técnica barata e simples tanto para caracterização sem perdas de dispositivos fotônicos passivos (interferômetro Mach-Zehnder, guias de onda para ótica não-linear, nanofios) e caracterização térmica com resolução temporal em componentes optoeletrônicos (lasers em poços quânticos, lasers em pontos quânticos, lasers de cascata quântica) com resolução espacial bidimensional máxima de 2 ¼m no estado da arte e resolução temporal que depende da velocidade do detector. Esse esquema de caracterização pode implementar ambas as técnicas de medida baseadas em propriedades Fabry-Pérot da cavidade. Em relação às propriedades ativas, o aquecimento térmico influencia fortemente a vida média e os parâmetros de operação. Esse esquema ótico possibilitou no ano passado o desenvolvimento de um laser de cascata quântica em uma empresa de pesquisa privada conhecida mundialmente. Interesse privado e acadêmico nesse tipo de abordagem é um ponto chave neste projeto, especialmente considerando minha experiência anterior em instituições de pesquisa privadas (Telecom Italia, Agilent Technologies, Avago Technologies e Thales France). (AU)

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Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
FERREIRA, PAULO HENRIQUE DIAS; TRIBUZI, VINICIUS; OSELLAME, ROBERTO; GHIGLIENO, FILIPPO. Improvement in measuring losses by interferometric technique for glass waveguides produced by femtosecond laser writing. Optics Communications, v. 530, p. 5-pg., . (18/11283-7, 16/21322-4, 13/21569-1)