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Heteroestruturas em nanofios semicondutores: emissores de luz nanométricos estudados por microscopia de varredura de tunelamento

Processo: 14/23399-9
Linha de fomento:Auxílio à Pesquisa - Apoio a Jovens Pesquisadores
Vigência: 01 de novembro de 2015 - 31 de outubro de 2020
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Luiz Fernando Zagonel
Beneficiário:Luiz Fernando Zagonel
Instituição-sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Auxílios(s) vinculado(s):16/01918-0 - EMU concedido no processo 2014/23399-9: microscópio de varredura de tunelamento criogênico de ultra-alto-vácuo equipado com detector de espectros de alto desempenho, AP.EMU
Bolsa(s) vinculada(s):18/08543-7 - Emissão de luz por defeitos em materiais bidimensionais, BP.DR
17/17358-6 - Desenvolvimento de um detector de luz para um microscópio de varredura de tunelamento de baixa temperatura, BP.IC
17/14369-7 - Desenvolvimento do sistema de refrigeração de um manipulador UHV para o dispositivo detector de luz LT-STM, BP.IC
17/00259-5 - Sistema ótico de alto desempenho para um microscópio de varredura de tunelamento, BP.MS
16/22184-4 - Desenvolvimento de um dispositivo detector de luz para um LT-STM: simulações e protótipo, BP.IC
Assunto(s):Semicondutores  Microscopia  Nanofios  Espectroscopia óptica 

Resumo

Esse projeto visa nuclear um grupo de pesquisa em espectroscopia ótica de emissores de luz individuais estudada com alta resolução espacial e espectral por Microscopia de Varredura de Tunelamento (STM) associada a um sistema óptico de alto desempenho. Nesse sistema, sinais de luminescência local gerados pela corrente de efeito túnel do STM serão utilizados para o estudo de nanoestruturas semicondutoras com resolução espacial sub-nanométrica. Os objetivos dessa proposta são desenvolver um sistema instrumental único, no estado da arte, e explorar as potencialidades desse sistema no estudo de heteroestruturas InP, In(Ga)P e GaP formadas dentro de nanofios, incluindo polimorfismo. Nanofios do grupo III-V, de grande interesse tecnológico, tem revelado novas propriedades e estudos ópticos em escala nanométrica via STM, em correlação com Microscopia Eletrônica de Transmissão (TEM), irão permitir um avanço rápido e ágil dessa fronteira do conhecimento. Os efeitos de mudanças de fase, interfaces, gradientes de composição e junções das heteroestruturas poderão ser correlacionados com as propriedades ópticas locais e globais de nanoestruturas individuais dentro de nanofios. Assim, este projeto deverá contribuir para a compreensão das propriedades óticas desses novos materiais. Esse projeto também irá explorar, posteriormente, outros sistemas físicos de interesse, como C-Dots or semicondutores bidimensionais (MoS2, BN, entre outros). (AU)

Publicações científicas (5)
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
DAS, P.; BLAZIT, J. D.; TENCE, M.; ZAGONEL, L. F.; AUAD, Y.; LEE, Y. H.; LING, X. Y.; LOSQUIN, A.; COLLIEX, C.; STEPHAN, O.; GARCIA DE ABAJO, F. J.; KOCIAK, M. Stimulated electron energy loss and gain in an electron microscope without a pulsed electron gun. ULTRAMICROSCOPY, v. 203, n. SI, p. 44-51, AUG 2019. Citações Web of Science: 4.
RAMOS, RAUL; SCOCA, DIEGO; MERLO, RAFAEL BORGES; MARQUES, FRANCISCO CHAGAS; ALVAREZ, FERNANDO; ZAGONEL, LUIZ FERNANDO. Study of nitrogen ion doping of titanium dioxide films. Applied Surface Science, v. 443, p. 619-627, JUN 15 2018. Citações Web of Science: 5.
DA SILVA, BRUNO C.; OLIVEIRA, DOUGLAS S.; IIKAWA, FERNANDO; COUTO, JR., ODILON D. D.; BETTINI, JEFFERSON; ZAGONEL, LUIZ F.; COTTA, MONICA A. Exploring Au Droplet Motion in Nanowire Growth: A Simple Route toward Asymmetric GaP Morphologies. Nano Letters, v. 17, n. 12, p. 7274-7282, DEC 2017. Citações Web of Science: 2.
KOCIAK, M.; ZAGONEL, L. F. yy Cathodoluminescence in the scanning transmission electron microscope. ULTRAMICROSCOPY, v. 176, n. SI, p. 112-131, MAY 2017. Citações Web of Science: 24.
ZAGONEL, L. F.; TIZEI, L. H. G.; VITIELLO, G. Z.; JACOPIN, G.; RIGUTTI, L.; TCHERNYCHEVA, M.; JULIEN, F. H.; SONGMUANG, R.; OSTASEVICIUS, T.; DE LA PENA, F.; DUCATI, C.; MIDGLEY, P. A.; KOCIAK, M. Nanometer-scale monitoring of quantum-confined Stark effect and emission efficiency droop in multiple GaN/AlN quantum disks in nanowires. Physical Review B, v. 93, n. 20 MAY 6 2016. Citações Web of Science: 10.

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