Revestimentos de Titânio, Nióbio e suas Ligas sobre Aço Inoxidável AISI 316L e Titânio

• Processo: 17/25983-8
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de abril de 2018
• Data de Término da vigência: 31 de março de 2021
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Metalurgia Física
• Pesquisador responsável: Pedro Augusto de Paula Nascente
• Beneficiário: Pedro Augusto de Paula Nascente
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Município da Instituição Sede: São Carlos
• Pesquisadores associados: Conrado Ramos Moreira Afonso ; Denise Aparecida Tallarico Guelli Lopes ; Haroldo Cavalcanti Pinto ; Pedro Iris Paulin Filho ; Valmor Roberto Mastelaro
• Assunto(s): Filmes finos Biomateriais Titânio Revestimentos Nióbio Ligas de titânio
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Biomaterial | Filmes finos | ligas de titânio | Niobio | revestimentos | titânio | Superfícies e Filmes Finos

Resumo

Este projeto envolve a produção e a caracterização de revestimentos (filmes finos) de titânio, nióbio e suas ligas binárias (TixNb1-x) depositados sobre substratos de aço AISI 316L e titânio comercialmente puro (Ti cp). O crescimento dos filmes será feito por pulverização magneto-catódica (magnetron sputtering) e a caracterização, por espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (X-ray photoelectron spectroscopy - XPS), microscopia de força atômica (atomic force microscopy - AFM), difração de raios X (X-ray diffraction - XRD), microscopia eletrônica de varredura (scanning electron microscopy - SEM), espectroscopia por energia dispersiva de raios X (energy dispersive spectroscopy - EDS), espectrometria de massa de íons secundários por tempo de vôo (ToF-SIMS) e microscopia eletrônica de transmissão (transmission electron microscopy - TEM), além de ensaios mecânicos com medidas de nanodureza (GPa) e módulo de elasticidade, E (GPa) e ensaios eletroquímicos. Serão estudadas as estruturas, as morfologias, as composições superficiais, as características mecânicas e as resistências à corrosão dos filmes finos. (AU)

Publicações científicas

(6)

(As publicações científicas contidas nesta página são originárias da Web of Science ou da SciELO, cujos autores mencionaram números dos processos FAPESP concedidos a Pesquisadores Responsáveis e Beneficiários, sejam ou não autores das publicações. Sua coleta é automática e realizada diretamente naquelas bases bibliométricas)

PANCOTTI, A.; SILVA, J. J.; DE SIERVO, A.; LANDERS, R.; NASCENTE, P. A. P.. Surface structure characterization of a (root 5 x root 5)-R26.6 degrees reconstruction of strontium titanate (001) by X-ray photoelectron diffraction. Surface Science, v. 715, JAN 2022. (17/25983-8)

GONZALEZ, E. DAVID; GIL, LISETH V. G.; KUGELMEIER, CRISTIE. L.; AMIGO-BORRAS, VICENTE; MASTELARO, VALMOR. R.; ROVERE, CARLOS A. D.; NASCENTE, PEDRO A. P.. Effect of Zr content on the physicochemical, electrochemical, and biological properties of Ti80Nb20-based alloys. MATERIALS TODAY COMMUNICATIONS, v. 32, p. 10-pg., 2022-07-22. (17/25983-8)

GONZALEZ, E. DAVID; AFONSO, CONRADO R. M.; NASCENTE, PEDRO A. P.. Nanostructural characterization of sputter deposited Ti-Nb coatings byautomated crystallographic orientation mapping. Thin Solid Films, v. 661, p. 92-97, SEP 1 2018. (15/19978-6, 17/25983-8)

FONTES, MARCOS ALVES; BAGGIO SCHEID, VLADIMIR HENRIQUE; MACHADO, DAVID DE SOUZA; CASTELETTI, LUIZ CARLOS; DE PAULA NASCENTE, PEDRO AUGUSTO. Morphology of the DIN 100Cr6 Case Hardened Steel after Plasma Nitrocarburizing Process. MATERIALS RESEARCH-IBERO-AMERICAN JOURNAL OF MATERIALS, v. 22, n. 3, 2019. (17/25983-8)

PANCOTTI, ALEXANDRE; SILVA, JENIFER J.; CASTRO, MAYRON S.; DE SIERVO, ABNER; LANDERS, RICHARD; NASCENTE, PEDRO A. P.. Unraveling the (1 x 1) and (1 x 2) reconstructed surface structures of SrTiO3(110) single crystal. Applied Surface Science, v. 721, p. 10-pg., 2026-03-01. (17/25983-8)

PANCOTTI, A.; DE SIERVO, A.; CARAZZOLLE, M. F.; SILVA, J. J.; NASCENTE, P. A. P.; LANDERS, R.. Surface structure characterization by X-ray photoelectron diffraction of Sn ultra-thin films deposited on Pd(111). Surface Science, v. 685, p. 7-12, JUL 2019. (17/25983-8)