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2018 MRS spring meeting & Exhibit

Processo: 18/00176-5
Linha de fomento:Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
Vigência: 02 de abril de 2018 - 06 de abril de 2018
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Sérgio Luiz Morelhão
Beneficiário:Sérgio Luiz Morelhão
Instituição-sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Cristalografia  Difração por raios X 

Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
DINA, GABRIEL; GONZALEZ, ANAL GOMEZ; MORELHAO, SERGIO L.; KYCIA, STEFAN. Micro Grain Analysis in Plastically Deformed Silicon by 2nd-Order X-Ray Diffraction. MRS ADVANCES, v. 3, n. 39, p. 2347-2352, 2018. Citações Web of Science: 0.

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