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Leis de escala e propriedades de transporte em filmes finos depositados por sputtering

Processo: 98/00501-8
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Doutorado
Vigência (Início): 01 de agosto de 1998
Vigência (Término): 28 de fevereiro de 2002
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química
Pesquisador responsável:Annette Gorenstein
Beneficiário:Tersio Guilherme de Souza Cruz
Instituição-sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Assunto(s):Fractais   Filmes finos   Propriedades de transporte

Resumo

Pretenderá estudar a correlação entre morfologia e propriedades de transporte iônico em filmes finos com aplicações em dispositivos de intercalação. E objetivo analisar a dinâmica de deposição de filmes finos pela técnica de sputtering, obtendo a dimensão fractal, a rugosidade da superfície e estudando a lei de escalas em cada condição experimental, além da análise, por técnicas eletroquímicas da dimensão fractal dos filmes. Os materiais propostos são filmes finos de Mo03 e de carbono. A caracterização da auto-similaridade e das leis de escala será realizada utilizando microscopia de força atômica. A intercalação será realizada utilizando-se as técnicas de cronoamperometria, voltametria cíclica e impedância eletroquímica. A microestrutura das amostras será analisada por difração de Raios-X convencional e por EXAFS. A composição ser analisada por RBS e as propriedades de transporte eletrônico por espectroscopia de impedância. (AU)

Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
SOUZA CRUZ‚ T.G.; KLEINKE‚ MU; GORENSTEIN‚ A. Evidence of local and global scaling regimes in thin films deposited by sputtering: An atomic force microscopy and electrochemical study. Applied Physics Letters, v. 81, n. 26, p. 4922-4924, 2002.
Publicações acadêmicas
(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)
CRUZ, Tersio Guilherme de Souza. Leis de escala e dimensão fractal em filmes finos : microscopia de força atômica e técnicas eletroquímicas. 2002. Tese de Doutorado - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Fisica Gleb Wataghin.

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