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Síntese e caracterização dè filmes ultrafinos dè PZT

Processo: 07/08534-3
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Doutorado
Vigência (Início): 01 de abril de 2008
Vigência (Término): 30 de novembro de 2011
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Eudes Borges de Araújo
Beneficiário:Elton Carvalho de Lima
Instituição-sede: Faculdade de Engenharia (FEIS). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Ilha Solteira. Ilha Solteira , SP, Brasil
Assunto(s):Filmes finos   Titanato zirconato de chumbo   Materiais ferroelétricos

Resumo

A compreensão da fenomenologia de filmes ferroelétricos ultrafinos está atualmente sob intensa investigação; pois o fenômeno da ferroeletricidade exibe uma dependência intrínseca com relação à dimensão das amostras devido ao diferente grau de ordenamento que se estabelece em superfícies ou nas interfaces de filmes ultrafinos. O ferroelétrico PbZr1-xTixO3 (PZT) é um potencial candidato para a produção dos anunciados novos dispositivos baseados em nanoestruturas. Por esta razão, o desenvolvimento de um método químico para a síntese de filmes ultrafinos de PZT e o estudo do efeito da redução das dimensões sobre as propriedades estruturais e dielétricas destes filmes constituem o cerne da investigação científica deste projeto de pesquisa.

Publicações científicas (6)
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
ARAUJO, E. B.; LIMA, E. C.; BDIKIN, I. K.; KHOLKIN, A. L. Imprint effect in PZT thin films at compositions around the morphotropic phase boundary. Ferroelectrics, v. 498, n. 1, 2, SI, p. 18-26, 2016. Citações Web of Science: 2.
LIMA, E. C.; ARAUJO, E. B. Role of residual stress on phase transformations of Pb(Zr0.50Ti0.50)O-3 thin films obtained from chemical route. Ferroelectrics, v. 499, n. 1, 3, SI, p. 28-35, 2016. Citações Web of Science: 0.
LIMA, E. C.; ARAUJO, E. B.; BDIKIN, I. K.; KHOLKIN, A. L. Effect of Composition on the Physical Properties at Nanoscale of PZT Thin Films. Ferroelectrics, v. 465, n. 1, SI, p. 106-114, JUN 11 2014. Citações Web of Science: 3.
LIMA, E. C.; ARAUJO, E. B.; BDIKIN, I. K.; KHOLKIN, A. L. The self-polarization effect in Pb(Zr0.50Ti0.50)O-3 thin films with no preferential orientation. Materials Research Bulletin, v. 47, n. 11, p. 3548-3551, NOV 2012. Citações Web of Science: 13.
LIMA, E. C.; ARAUJO, E. B.; SOUZA FILHO, A. G.; PASCHOAL, A. R.; BDIKIN, I. K.; KHOLKIN, A. L. Structural depth profile and nanoscale piezoelectric properties of randomly oriented Pb(Zr0.50Ti0.50)O-3 thin films. JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, v. 45, n. 21 MAY 30 2012. Citações Web of Science: 12.
ARAUJO, E. B.; LIMA, E. C.; GUERRA, J. D. S.; DOS SANTOS, A. O.; CARDOSO, L. P.; KLEINKE, M. U. Evidence for the monoclinic-tetragonal phase coexistence in Pb(Zr0.53Ti0.47)O-3 thin films. JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER, v. 20, n. 41 OCT 15 2008. Citações Web of Science: 13.
Publicações acadêmicas
(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)
LIMA, Elton Carvalho de. Estrutura e propriedades de filmes finos ferroelétricos do sistema PZT. 2011. 116 f. Tese de Doutorado - Universidade Estadual Paulista "Júlio de Mesquita Filho" Faculdade de Engenharia (Campus de Ilha Solteira)..

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