| Processo: | 09/00367-6 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Doutorado |
| Data de Início da vigência: | 01 de maio de 2009 |
| Data de Término da vigência: | 30 de abril de 2013 |
| Área de conhecimento: | Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos |
| Pesquisador responsável: | José Arana Varela |
| Beneficiário: | Anderson André Felix |
| Instituição Sede: | Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil |
| Vinculado ao auxílio: | 04/14932-3 - Influência da texturização e de defeitos cristalinos nas propriedades ferroelétricas de filmes finos e cerâmicos, AP.TEM |
| Assunto(s): | Filmes finos Dielétricos Propriedades dielétricas Varistores |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Filmes finos | propriedades dielétricas | Propriedades morfológicas | Varistor | Materiais dielétricos |
Resumo Recentemente, o Titanato de cálcio e cobre CaCu3Ti4O12 (CCTO) tem despertado grande interesse científico e tecnológico devido a sua constante dielétrica gigante e elevados coeficientes de não-linearidade na resposta tensão-corrente, propriedades muitos interessantes para aplicações em dispositivos tais como sensores e memórias de acesso, varistores, etc. Entretanto, a literatura proposta para explicar a origem de ambas as propriedades é controversa e exige uma melhor formulação teórica. Desta forma, a realização de um estudo sistemático dos mecanismos que permitam explicar as inesperadas propriedades elétricas e dielétricas colossais do CaCu3Ti4O12 constituem o principal objetivo e desafio deste projeto de pesquisa. A síntese de filmes finos de CCTO e a otimização de parâmetros tais como a espessura, a morfologia e a estrutura das amostras compõem o objetivo inicial deste projeto de pesquisa. Em uma etapa seguinte serão realizados estudos para análise do comportamento dielétrico e não-ôhmico mediante espectroscopia dielétrica e medidas de tensão-corrente. Nestes sistemas serão estudados detalhadamente ainda a morfologia das amostras utilizando-se microscopia eletrônica de varredura (MEV) e de transmissão (MET) e pretende-se correlacionar as propriedades morfológico-estruturais com as propriedades elétricas para explicar as propriedades apresentadas pelo CCTO. As propriedades elétricas também serão estudadas em freqüências variadas com o objetivo de separar diferentes contribuições para o efeito macroscópico. Neste caso, modelamentos utilizando circuitos equivalentes serão utilizados para verificar a consistência dos modelos físicos propostos com os verificados experimentalmente. | |
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