Obtenção de filmes finos de LaNiO3/BaTiO3/KNbO3 em substrato de si para estudo de propriedades estruturais e ópticas

• Processo: 12/11173-0
• Modalidade de apoio: Bolsas no Exterior - Estágio de Pesquisa - Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de setembro de 2012
• Data de Término da vigência: 30 de novembro de 2012
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química
• Pesquisador responsável: Elson Longo da Silva
• Beneficiário: Leilane Roberta Macario
• Supervisor: Valérie Bouquet
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Instituição Anfitriã: Université de Rennes 1, França
• Vinculado à bolsa: 10/08453-6 - Preparo e caracterização do compósito polímero/cerâmica de poli fluoreto de vinilideno com compostos perovskitas dopados com európio aplicado como sensor multifuncional, BP.DR
• Assunto(s): Luminescência Deposição por laser pulsado Filmes finos Propriedades ópticas Perovskita
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Deposição de Laser Pulsado | Filmes finos | luminescência | perovskita | Filmes Finos

Resumo

O presente trabalho propõe a realização de estudos e obtenção de pós cerâmicos para posterior deposição de filmes finos multicamadas visando a obtenção de filmes finos com propriedades ópticas aplicáveis. Os pós cerâmicos a serem utilizados na produção dos filmes finos serão produzidos via método convencional de Reação em Estado Sólido (RES) e a obtenção dos filmes finos será realizada pelo método de Deposição de Laser Pulsado (Pulsed Laser Deposition, PLD). A obtenção dos filmes multicamadas ocorrerá por intermédio de três estágios; deposição de uma camada de niquelato de lantânio (LaNiO3) sobre um substrato Si (100); deposição uma camada de titanato de bário (BaTiO3) sobre a camada de LaNiO3; deposição de uma camada de niobato de potássio (KNbO3) sobre a camada de BaTiO3. A estrutura dos filmes será investigada pela técnica de difração de raios-X. Um estudo de morfológico será realizado por intermédio de Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), permitindo a visualização sobre homogeneidade e espessura média dos filmes a serem preparados. A propriedade óptica do filme fino resultante será estudada por intermédio das medidas de emissão fotoluminescente (FL). Com os resultados obtidos será possível correlacionar as propriedades FL com a avaliação estrutural e morfológica dos filmes finos. (AU)