Otimização da técnica de microscopia de força química para detecção de herbicidas

• Processo: 13/04320-0
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Vigência (Início): 01 de maio de 2013
• Vigência (Término): 30 de novembro de 2014
• Área do conhecimento: Interdisciplinar
• Pesquisador responsável: Fabio de Lima Leite
• Beneficiário: Ariana de Souza Moraes
• Instituição Sede: Centro de Ciências e Tecnologias para a Sustentabilidade (CCTS). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). Sorocaba , SP, Brasil
• Assunto(s): Biotecnologia Nanotecnologia Herbicidas Escala nanométrica Sensoriamento remoto Espectroscopia Microscopia de força atômica Microscopia eletrônica de varredura
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Afm | Cantilever | Cfm | herbicida | Nanobiossensor | Nanotecnologia | Biotecnologia

Resumo

O processamento de materiais em escalas nanométricas tem sido cada vez mais utilizado no desenvolvimento de estruturas e dispositivos supramoleculares que possam ter aplicações tecnológicas. A utilização de materiais poliméricos, em conjunto com outros materiais em filmes automontados nanoestruturados, permite que propriedades específicas sejam projetadas e detectadas. Este projeto aborda estudos voltados à fabricação de "nanossensores" construídos através da funcionalização de pontas de microscopia de força atômica (AFM - atomic force microscopy) com monocamadas orgânicas e aplicação na detecção de contaminantes, especificamente, pesticidas. Essas monocamadas possuem terminações em grupos funcionais bem definidos, o que permite a identificação de grupos moleculares. Esta técnica do AFM é chamada de microscopia de força química (CFM - Chemical Force Microscopy). Utilizaremos grupos funcionais derivados de proteínas e enzimas e polímeros condutores, além de anticorpos (anti-pesticidas) para detectar sítios antigênicos imobilizados. Ênfase será dada à possibilidade de detecção de herbicidas, tais como atrazina e outros pertencentes aos grupos de herbicidas imidazolinonas, sulfoniluréias e sulfonanilidas, por intermédio de interações específicas, usando a técnica de espectroscopia de força atômica (AFS- atomic force spectroscopy) com pontas funcionalizadas. O sensoriamento será realizado sobre superfícies conhecidas funcionalizadas, como mica e silício. As pontas serão caracterizadas por microscopia eletrônica de varredura (SEM), além da técnica de FTIR para a investigação da interação dos componentes de funcionalização. As medidas de força poderão ser realizadas em 2 condições diferentes: condição ambiente e controlada (umidade). (AU)