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Otimização da técnica de microscopia de força química para detecção de herbicidas

Processo: 13/04320-0
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
Vigência (Início): 01 de maio de 2013
Vigência (Término): 30 de novembro de 2014
Área do conhecimento:Interdisciplinar
Pesquisador responsável:Fabio de Lima Leite
Beneficiário:Ariana de Souza Moraes
Instituição-sede: Centro de Ciências e Tecnologias para a Sustentabilidade (CCTS). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). Sorocaba , SP, Brasil
Assunto(s):Biotecnologia   Herbicidas   Microscopia de força atômica   Nanotecnologia

Resumo

O processamento de materiais em escalas nanométricas tem sido cada vez mais utilizado no desenvolvimento de estruturas e dispositivos supramoleculares que possam ter aplicações tecnológicas. A utilização de materiais poliméricos, em conjunto com outros materiais em filmes automontados nanoestruturados, permite que propriedades específicas sejam projetadas e detectadas. Este projeto aborda estudos voltados à fabricação de "nanossensores" construídos através da funcionalização de pontas de microscopia de força atômica (AFM - atomic force microscopy) com monocamadas orgânicas e aplicação na detecção de contaminantes, especificamente, pesticidas. Essas monocamadas possuem terminações em grupos funcionais bem definidos, o que permite a identificação de grupos moleculares. Esta técnica do AFM é chamada de microscopia de força química (CFM - Chemical Force Microscopy). Utilizaremos grupos funcionais derivados de proteínas e enzimas e polímeros condutores, além de anticorpos (anti-pesticidas) para detectar sítios antigênicos imobilizados. Ênfase será dada à possibilidade de detecção de herbicidas, tais como atrazina e outros pertencentes aos grupos de herbicidas imidazolinonas, sulfoniluréias e sulfonanilidas, por intermédio de interações específicas, usando a técnica de espectroscopia de força atômica (AFS- atomic force spectroscopy) com pontas funcionalizadas. O sensoriamento será realizado sobre superfícies conhecidas funcionalizadas, como mica e silício. As pontas serão caracterizadas por microscopia eletrônica de varredura (SEM), além da técnica de FTIR para a investigação da interação dos componentes de funcionalização. As medidas de força poderão ser realizadas em 2 condições diferentes: condição ambiente e controlada (umidade).