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Estudo por técnicas avançadas de microscopia eletrônica de agregados metálicos e materiais nanocompósitos utilizados em aplicações fotovoltaicas

Processo: 14/01045-0
Linha de fomento:Bolsas no Exterior - Pesquisa
Vigência (Início): 01 de agosto de 2014
Vigência (Término): 31 de julho de 2015
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Daniel Mario Ugarte
Beneficiário:Daniel Mario Ugarte
Anfitrião: Caterina Ducati
Instituição-sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Local de pesquisa : University of Cambridge, Inglaterra  
Assunto(s):Estrutura atômica (física moderna)   Microscopia eletrônica   Materiais nanoestruturados

Resumo

A completa caracterização de sistemas nanométricos requer conhecimento detalhado do arranjo atômico. A microscopia eletrônica de transmissão (TEM) recebeu melhoras surpreendentes de seu sistema ótico nos últimos 5 anos com a otimização e comercialização de óticas eletrônica com corretores de aberração esférica ou cromática e monocromadores da energia dos elétrons. Lamentavelmente, o Brasil não possui instrumentos no estado da arte, nem grupos consolidados com experiência nesta área. Um estágio de 12 meses num laboratório de referência a nível mundial como o Laboratório de Microscopia Eletrônica da Universidade de Cambridge permitirá uma eficiente atualização, numa instituição que possui todos os recursos materiais e humanos na fronteira do conhecimento. O pesquisador será acolhido por dois especialistas reconhecidos mundialmente, como o Prof. Paul Midgley, pioneiro na implementação da tomografia eletrônica (ET) e, C. Ducati especialista na aplicação de TEM, STEM (Scanning TEM) e FIB a nanocaracterização de materiais. Visamos aplicar metodologias modernas e recentes baseadas em TEM com óptica corregida (Aberration Corrected TEM, ACTEM) para caracterização detalhada e quantitativa da estrutura e superfícies e interfaces de nanossistemas utilizando o arsenal de técnicas analíticas disponíveis num TEM/STEM (imagens, tomografia, espectroscopia de R-x e de elétrons, difração, etc.). Entre os objetos que serão estudados estão catalizadores heterogêneos, nanopartículas metálicas e células fotovoltaicas híbridas. Pretendemos explorar a tomografia eletrônica para o estudo de amostras muito sensíveis a radiação como catalisadores heterogêneos, incluindo nanopartículas metálicas muito pequenas (~nm). Também, estudaremos aplicação de tomografia a nanoestruturas híbridas (células solares) contendo materiais orgânicos e inorgânicos para caracterizar as interfaces de forma quantitativa e estatística. (AU)

Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
UGARTE, DANIEL; DUCATI, CATERINA. Controlling multipolar surface plasmon excitation through the azimuthal phase structure of electron vortex beams. Physical Review B, v. 93, n. 20 MAY 11 2016. Citações Web of Science: 5.

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