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Síntese e caracterização de nanofios de SnO2 puros e dopados para aplicações em nanodispositivos

Processo: 15/26391-1
Linha de fomento:Bolsas no Exterior - Pesquisa
Vigência (Início): 01 de abril de 2016
Vigência (Término): 28 de fevereiro de 2017
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
Pesquisador responsável:Alexandre José de Castro Lanfredi
Beneficiário:Alexandre José de Castro Lanfredi
Anfitrião: Prof Srp Silva
Instituição-sede: Centro de Engenharia, Modelagem e Ciências Sociais Aplicadas (CECS). Universidade Federal do ABC (UFABC). Ministério da Educação (Brasil). Santo André , SP, Brasil
Local de pesquisa : University of Surrey, Inglaterra  
Assunto(s):Nanosensores   Nanotecnologia   Nanofios

Resumo

A síntese e desenvolvimento de dispositivos a partir de materiais unidimensionais 1D têm permitido observar uma série de novos fenômenos físicos e criar novas aplicações tecnológicas, além de fornecer subsídios para o entendimento e explicação destes fenômenos. Neste projeto propõe-se estudar materiais nanoestruturados baseados em nanofios de óxidos de estanho (SnO2) puros e dopados com Índio (ITO), Zinco (ZTO) ou Germânio (GTO), os quais serão sintetizados através das técnicas de crescimento Vapor-Líquido-Sólido (VLS) e Vapor-Sólido (VS). A síntese destas nanopartículas através de técnicas de deposição química na fase vapor será realizada em câmeras de deposição altamente controladas. A dopagem ocorrerá durante a síntese ou posteriormente por meio de implantação iônica. Utilizando técnicas de nanolitografia por Microscopia de varredura por Feixe de Elétrons e por Feixe de Íons com nanomanipuladores, pretende-se melhorar a confecção dos nanodispositivos, de forma a aprofundar o estudo das propriedades físicas destes sistemas eletrônicos de baixa dimensionalidade. Nesse contexto, as análises químicas destes materiais serão realizadas por meio de técnicas de espectroscopia por energia dispersiva de raios-X (EDS) com resolução nanométrica e por espectroscopia de massa por feixe de íons. Para análises morfológicas na nanoescala, além das técnicas de microscopia eletrônica por varredura e por transmissão, pretende-se utilizar uma tecnologia de varredura por sonda em ultra-alto-vácuo que, além da imagem em escala atômica, permite obter uma análise química e eletrônica precisa da superfície. As análises serão complementas por medidas elétricas de resistividade por sondas de 4 pontas e por espectroscopia elétrica e ótica.

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