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Estudo dos efeitos da radiação ionizante em um circuito retificador

Processo: 17/18181-2
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
Vigência (Início): 01 de dezembro de 2017
Vigência (Término): 30 de junho de 2018
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física Nuclear
Pesquisador responsável:Marcilei Aparecida Guazzelli
Beneficiário:Alexis Cristiano Vilas Bôas
Instituição-sede: Campus de São Bernardo do Campo. Centro Universitário da FEI (UNIFEI). Fundação Educacional Inaciana Padre Sabóia de Medeiros (FEI). São Bernardo do Campo , SP, Brasil
Assunto(s):Efeitos de radiação   Radiação ionizante   Raios X   Retificadores   Dispositivos eletrônicos

Resumo

Dispositivos eletrônicos expostos à radiação ionizante podem sofrer danos que podem alterar as propriedades que caracterizam o dispositivo, modificando os parâmetros elétricos e, no caso de memórias ou processadores, podendo modificar as informações contidas nesses dispositivos. Diante deste problema, o desenvolvimento de dispositivos eletrônicos resistentes à radiação e a sua qualificação quanto a serem mais tolerantes aos efeitos da radiação ionizante requerem pessoal qualificado, com o conhecimento específico dos mecanismos físicos atuantes nos dispositivos quando expostos à radiação. Para estudar o comportamento de dispositivos nessas condições, é necessário saber caracterizá-lo adequadamente, de acordo com os danos causados por uma determinada dose de radiação, e pelo tipo de radiação ionizante. Vale ressaltar que este tema é de extrema importância para que esta área estratégica de pesquisa seja autossuficiente em nosso país e também que o Centro Universitário FEI participa do mais importante projeto nacional, financiado pela FINEP - CITAR: Circuitos Integrados Tolerantes a Radiação - o qual visa consolidar este conhecimento no Brasil. Este projeto de pesquisa visa estudar efeitos da radiação ionizante proveniente de raios-X em dispositivos eletrônicos convencionais, especificamente os diodos Retificadores e Zener. Os diodos serão expostos a diferentes taxas de dose de radiação de raios X, modificando o tempo de exposição e a intensidade do feixe de raios X, com a finalidade de estudar como a dose de radiação acumulada no material influência nas características dos dispositivos e no sinal do circuito. Desta forma, será possível correlacionar os mecanismos físicos responsáveis pelos efeitos da radiação nos dispositivos com as alterações nos parâmetros característicos, gerando capacitação de engenheiros elétricos nesta área estratégica para o Brasil. (AU)

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