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Emissão de luz por defeitos em materiais bidimensionais

Processo: 18/08543-7
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Doutorado
Vigência (Início): 01 de outubro de 2018
Situação:Interrompido
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Luiz Fernando Zagonel
Beneficiário:Ricardo Javier Peña Román
Instituição-sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:14/23399-9 - Heteroestruturas em nanofios semicondutores: emissores de luz nanométricos estudados por microscopia de varredura de tunelamento, AP.JP
Bolsa(s) vinculada(s):20/12480-0 - Emissão de fótons individuais a partir de defeitos pontuais e hot spots induzidos pelo substrato em semicondutores bidimensionais: um estudo via luminescência induzida em microscopia de varredura de tunelamento, BE.EP.DR
Assunto(s):Materiais nanoestruturados   Propriedades eletrônicas   Propriedades ópticas   Luminescência   Microscopia eletrônica de transmissão   Microscopia eletrônica de varredura   Microscopia de tunelamento   Ensaios de defeitos

Resumo

Neste projeto desejamos estudar defeitos individuais em nanoestruturas bidimensionais e as propriedades eletrônicas e óticas desses defeitos. De fato, defeitos pontuais (vacâncias, átomos substitucionais e associações) têm profundos efeitos na luminescência de nitreto de boro hexagonal (hBN) e alguns calcogenos de metais de transição (TMDs), como MoS2 e WSe2. Nesses materiais defeitos pontuais podem ser fontes de fótons únicos (SPE), podem aumentar a eficiência quântica ou mudar as energias de emissão. Apesar de todo o interesse tecnológico e científico, muitas questões permanecem em aberto com relação ao papel de cada tipo de defeito e como controlar a densidade para se obter as propriedades desejadas. Para isso, planejamos gerar defeitos de forma controlada através de feixes de íons de baixa energia (~150 eV) e estudar a morfologia, estrutura eletrônica e emissão de luz através de técnicas de microscopia de alta resolução adaptadas aos estudos de ótica, que são Catodoluminescência em Microscopia Eletrônica de Transmissão em modo Varredura (CL-STEM) e Luminescência em Microscopia de Varredura de Tunelamento. Essa metodologia permitirá o rápido avanço na compreensão de defeitos individuais e dessa fronteira do conhecimento. (AU)

Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
DO AMARAL, GABRIELA MOURA; TONON, ISABELA DA COSTA; PENA ROMAN, RICARDO JAVIER; PLATH, HANNAH DE OLIVEIRA; TANIGUCHI, THEO MASSAO; DE LIMA, LUIS HENRIQUE; ZAGONEL, LUIZ FERNANDO; LANDERS, RICHARD; DE SIERVO, ABNER. Epitaxial growth, electronic hybridization and stability under oxidation of monolayer MoS2 on Ag(111). Applied Surface Science, v. 538, FEB 1 2021. Citações Web of Science: 0.
PENA ROMAN, RICARDO JAVIER; AUAD, YVES; GRASSO, LUCAS; ALVAREZ, FERNANDO; BARCELOS, INGRID DAVID; ZAGONEL, LUIZ FERNANDO. Tunneling-current-induced local excitonic luminescence in p-doped WSe(2)monolayers. NANOSCALE, v. 12, n. 25, p. 13460-13470, JUL 7 2020. Citações Web of Science: 0.

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