Padrões de difração de cimentos reparadores de alta plasticidade

• Processo: 18/16722-9
• Linha de fomento: Bolsas no Exterior - Estágio de Pesquisa - Iniciação Científica
• Vigência (Início): 10 de janeiro de 2019
• Vigência (Término): 09 de fevereiro de 2019
• Área do conhecimento: Ciências da Saúde - Odontologia - Endodontia
• Pesquisador responsável: Marina Angélica Marciano da Silva
• Beneficiário: Gabriela Fernanda Bombarda
• Supervisor no Exterior: Josette Camilleri
• Instituição-sede: Faculdade de Odontologia de Piracicaba (FOP). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Piracicaba, SP, Brasil
• Local de pesquisa : University of Birmingham, Inglaterra
• Vinculado à bolsa: 18/06515-6 - Caracterização química e estrutural de cimentos reparadores de alta plasticidade, BP.IC

Resumo

O objetivo do estudo é avaliar a fase, estrutura química e cristalina de cimentos de alta plasticidade (MTA HP, Biodentina, MTA Flow, MTA Flow + 5% ZnO e um cimento experimental de silicato tricálcio) usando difratometria de raios-X (XRD). Cimentos hidratados e não-hidratados serão avaliados. As amostras serão preparadas na Faculdade de Odontologia de Piracicaba. Para a análise dos cimentos não-hidratados, os pós serão inseridos diretamente no porta-amostras de XRD e compactados. Para a análise dos cimentos hidratados, serão preparados corpos de prova com 15 mm de diâmetro e 2 mm de altura, e mantidos a 37ºC e aproximadamente 95% de umidade relativa por 24 horas para a completa presa. As amostras serão imersas separadamente em HBSS por 28 dias. Após esse período, elas serão secas, dissecadas a vácuo e trituradas em pó fino usando um gral e pistilo. O pó será adaptado no porta-amostras de XRD. O difratômetro (Rigaku, Tóquio, Japão) operará usando radiação Cu K ± a 40 mA e 45 kV e o detector deverá girar entre 15 ° e 45 °, com largura de amostragem de 0,05 ° e velocidade de varredura de 1 ° / min. a 15 revs / min usando o método de Bragg Brentano. A identificação da fase será realizada usando um software de correspondência de pesquisa utilizando o banco de dados ICDD (Centro Internacional de Dados de Difração, Newtown Square, PA, EUA). Os resultados serão descritos de acordo com os padrões de difração apresentados por cada material.