| Processo: | 18/12926-9 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Mestrado |
| Data de Início da vigência: | 01 de novembro de 2018 |
| Data de Término da vigência: | 29 de fevereiro de 2020 |
| Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada |
| Acordo de Cooperação: | Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES) |
| Pesquisador responsável: | Márcio Medeiros Soares |
| Beneficiário: | Marina Raboni Ferreira |
| Instituição Sede: | Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). Campinas , SP, Brasil |
| Assunto(s): | Magnetismo Spintrônica |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Deformações Estruturais | difração de raios-X | Espectroscopia de absorção de raios-x | Materiais Antiferromagnéticos | Spintrônica | Técnicas de síncrotron | Magnetismo |
Resumo O uso de materiais antiferromagnéticos (AFM) como camada ativa em dispositivos spintrônicos foi recentemente demonstrado através do fenômeno da magnetorresistência túnel anisotrópica (TAMR). Materiais com ordenamento antiferromagnético não geram campos espúrios, são praticamente insensíveis a perturbações externas e exibem dinâmica de magnetização ultrarrápida, características que impulsionam o interesse em uma spintrônica baseada em AFM. A insensibilidade dos AFM a campos magnéticos externos, contudo, torna difícil sua manipulação, sendo que métodos magnéticos, estruturais, elétricos e ópticos vêm sendo estudados para controlar a orientação dos spins nesses materiais. Nesse projeto, daremos ênfase ao monóxido de cobalto (CoO), um material AFM promissor para TAMR devido a sua alta anisotropia magnética, temperatura de Néel próxima à temperatura ambiente e forte dependência da estrutura eletrônica e de spins com a estrutura cristalina, abrindo a possibilidade de controlar sua anisotropia magneto-cristalina através de deformações estruturais. Propomos o estudo de propriedades estruturais, eletrônicas e magnéticas de filmes finos AFM crescidos em substratos flexíveis e submetidos a deformações estruturais controladas, através de estudos in-situ de difração de raios-X e espectroscopia de absorção de raios-X usando luz síncrotron. | |
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