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Modelamento estrutural visando aplicações da difração dinâmica de Raios X em moléculas biológicas e materiais tecnológicos

Processo: 19/11564-9
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
Vigência (Início): 01 de agosto de 2019
Vigência (Término): 31 de dezembro de 2020
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Sérgio Luiz Morelhão
Beneficiário:Rafaela Felix da Silva Penacchio
Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Cristalografia   Radiação síncrotron   Ligações de hidrogênio   Aminoácidos   Difração por raios X
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:aminoácidos | ligacoes de hidrogenio | propriedades termoelétricas | síncrotron | Cristalografia

Resumo

A difração dinâmica de raios X oferece possibilidades inéditas em termos de resolução estrutural. Mas, a aplicação da técnica de medir difrações simultâneas é limitada pela necessidade de prever de antemão as condições experimentais ideias que permitam resolver os detalhes estruturais relevantes às propriedades dos sistemas investigados; detalhes esses inacessíveis por métodos convencionais. A partir de variações em estruturas modelo, será desenvolvido uma série de rotinas de cálculo que permitam mostrar se determinados detalhes das estruturas, tais como pequenas flutuações de cargas iônicas e diferenças em parâmetros de deslocamento atômico, podem ser resolvidos pela técnica em questão. Visamos criar uma plataforma integrada das rotinas de cálculo que facilite os estudos preliminares necessários à aplicação da difração dinâmica de raios X em sistemas diversos.

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Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
VALERIO, ADRIANA; PENACCHIO, RAFAELA F. S.; ESTRADIOTE, MAURICIO B.; CANTARINO, MARLI R.; GARCIA, FERNANDO A.; MORELHAO, SERGIO L.; RAFTER, NIAMH; KYCIA, STEFAN W.; CALLIGARIS, GUILHERME A.; REMEDIOS, CLAUDIO M. R.. Phonon scattering mechanism in thermoelectric materials revised via resonant x-ray dynamical diffraction. MRS COMMUNICATIONS, v. 10, n. 2, p. 265-271, . (18/00303-7, 19/15574-9, 19/11564-9)

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