| Processo: | 19/13473-0 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Iniciação Científica |
| Data de Início da vigência: | 01 de setembro de 2019 |
| Data de Término da vigência: | 31 de agosto de 2020 |
| Área de conhecimento: | Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos |
| Pesquisador responsável: | Miguel Ángel Ramírez Gil |
| Beneficiário: | Pedro Ivens de Carvalho |
| Instituição Sede: | Faculdade de Engenharia (FEG). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Guaratinguetá. Guaratinguetá , SP, Brasil |
| Vinculado ao auxílio: | 13/07296-2 - CDMF - Centro de Desenvolvimento de Materiais Funcionais, AP.CEPID |
| Assunto(s): | Dielétricos Materiais cerâmicos Fotocatálise Difração por raios X Espectroscopia Raman Espectroscopia de impedância |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Ccto | Dielétricos | Rietveld | Cerâmicos |
Resumo O estudo de cerâmicas à base de CaCu3Ti4O12 (CCTO) têm recebido atenção crescente da comunidade científica, o que se justifica por sua multifuncionalidade, podendo ser aplicados em lasers, fotocatálise, LED's, capacitores, varistores, etc. O objetivo deste projeto é estudar o efeito de adições de Cr3+ no CCTO na resposta óptica de pós cerâmicos preparados por reação em estado sólido, bem como nas propriedades não ôhmicas e dielétricas de cerâmicas na forma de bulks. Será analisado o efeito da adição de X%Cr3+, sendo X = 0,00; 0,01; 0,02, 0,05, 0,10 e 0,25 em massa nas propriedades (micro)estruturais, ópticas e (di)elétricas do CCTO. A análise estrutural dos pós a longo, médio e curto alcance será realizada usando as técnicas de difratometria de raios X (DRX), resposta fotoluminescente, espectroscopia de ultravioleta visível (UV-Vis) e Raman, respectivamente. Será estudada a resposta fotocatalítica dos pós cerâmicos e a microestrutura será avaliada utilizando-se microscopia eletrônica de varredura (FEG-MEV). As técnicas DRX/Análise de Rietveld e FEG-MEV serão utilizadas para caracterizar a (micro)estrutura das cerâmicas na forma de bulks. A resposta dielétrica será caracterizada por espectroscopia de impedância (EI) a diferentes temperaturas e, medidas corrente-tensão (I-V) serão utilizadas para determinar o comportamento não ôhmico do material. | |
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