| Processo: | 04/09612-0 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado |
| Data de Início da vigência: | 01 de janeiro de 2005 |
| Data de Término da vigência: | 30 de abril de 2007 |
| Área de conhecimento: | Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos |
| Pesquisador responsável: | José Antonio Eiras |
| Beneficiário: | José de los Santos Guerra |
| Instituição Sede: | Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil |
| Vinculado ao auxílio: | 00/09722-9 - Materiais ferroelétricos: fenomenologia, propriedades e caracterização, AP.TEM |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Filmes Finos Ferroeletricos | Microondas | Relaxores Ferroeletricos | Transicao De Fase |
Resumo Propõe-se uma pesquisa em materiais ferroelétricos através de medidas de dispersão dielétrica, na faixa de 100Hz-3GHz para baixos e altos campos de medida, com vistas à caracterização de propriedades dielétricas não-lineares de ferroelétricos relaxores cerâmicos e filmes finos em função da temperatura. Para tanto, estenderemos a técnica de medidas dielétricas em microondas para a caracterização de filmes finos e implementaremos as técnicas para determinação do primeiro e terceiro harmônicos da polarização e caracterização dielétrica em função da intensidade de campo elétrico AC. O uso concomitante dessas técnicas nos permitirá avaliar e contribuir para o entendimento, dentre os diversos modelos teóricos ou fenomenológicos (não conclusivos) usualmente utilizados para a explicação de fenômenos observados, qual é o mais apropriado para uma descrição da resposta dielétricas de ferroelétricos. Destaca-se, sem duvida, por um lado a anomalia dielétrica de altas freqüências (microondas) e o efeito relaxor e transição de fase difusa observada nesses materiais para baixas freqüências. Os materiais investigados, cerâmicas e filmes finos com estrutura perovskita ou tungstênio bronze, serão preparados no Grupo de Cerâmicas Ferroelétricas (GCFerr) do DF/ UFSCar. A extensão dessas medidas aos filmes finos permitirá fazer a conexão/correlação/extensão entre as propriedades de "bulk" e de nanomateriais, a baixos e altos campos. (AU) | |
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