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Síntese e caracterização da sílica mesoporosa SBA-15 nos poros de membranas AAO

Processo: 09/06293-4
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
Vigência (Início): 01 de junho de 2009
Vigência (Término): 30 de novembro de 2011
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
Pesquisador responsável:Celso Valentim Santilli
Beneficiário:Lívia Servidoni Jodas
Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:07/53073-4 - Cerâmicas mesoporosas e hibridos orgânico-inorgânicos multifuncionais preparados pelo processo sol-gel, AP.TEM
Assunto(s):Materiais não metálicos   Materiais mesoporosos   Sílica mesoporosa   Alumina
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:membrana de alúmina anódica | Sba-15 | Sílica Mesoporosa | materiais cerâmicos

Resumo

O presente projeto visa a síntese e caracterização de materiais mesoporosos do tipo SBA-15 no interior de canais ordenados de membranas de alumina porosa (Aluminum Anodic Oxide - AAO). Esses materiais mesoporosos serão preparados pelo processo sol-gel, usando tetraetilortossilicato (TEOS) como fonte de sílica e o copolímero tribloco P123 como direcionador estrutural. O SBA-15 é um tipo de sílica mesoporosa contendo poros cilíndricos (diâmetro de poros de 3 a 30nm) ordenados hexagonalmente [1]. Por outro lado, as membranas de AAO apresentam a mesma estrutura hexagonal de poros cilíndricos observada para o SBA-15, porém com poros de diâmetros na faixa de 20 a 200nm. Desta forma, a preparação do SBA-15 in situ nos poros da membrana AAO poderão levar a formação de novas estruturas hierárquicas com potenciais aplicações em processos de filtração e catálise. As amostras serão preparadas segundo metodologias encontradas na literatura [1,2] e caracterizadas por diferentes técnicas experimentais, como a difratometria de raios-X (DRX), espalhamento de raios X a baixo ângulo (SAXS), adsorção-dessorção de nitrogênio, microscopia eletrônica de varredura (MEV) e microscopia de forças atômicas (AFM). Essas técnicas combinadas poderão trazer informações acerca das propriedades estruturais e físico-químicas do material preparado. (AU)

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