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Utilização de técnicas de microscopia de força atômica na caracterização de materiais poliméricos

Processo: 99/06351-0
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Vigência (Início): 01 de março de 2000
Vigência (Término): 28 de fevereiro de 2002
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química
Pesquisador responsável:Maria do Carmo Gonçalves
Beneficiário:Eduardo Radovanovic
Instituição-sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:95/03636-3 - Morfologia de materiais poliméricos orgânicos e inorgânicos, AP.TEM
Assunto(s):Polímeros (materiais)   Blendas   Microscopia eletrônica   Microscopia de força atômica

Resumo

A microscopia de força atômica (AFM) é uma técnica especialmente interessante para a caracterização da morfologia de materiais poliméricos, por possibilitar a obtenção de imagens com alta resolução, sem danificar e sem a necessidade de preparação prévia das amostras. Neste projeto é proposta a investigação detalhada da morfologia de blendas, copolímeros e híbridos, através do uso de diferentes técnicas de AFM, bem como de microscopias eletrônicas de varredura de alta resolução e de transmissão. (AU)