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Projeto, construção e teste de um sistema para medidas de precisão de índices de refração usando o método da profundidade aparente

Processo: 00/02393-0
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
Vigência (Início): 01 de agosto de 2000
Vigência (Término): 30 de junho de 2002
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia Elétrica - Medidas Elétricas, Magnéticas e Eletrônicas, Instrumentação
Pesquisador responsável:Luciana Reyes Pires Kassab
Beneficiário:Caio Eduardo Do Amaral Bittencourt
Instituição-sede: Faculdade de Tecnologia São Paulo (FATEC São Paulo). Centro Paula Souza (CEETEPS). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Índice de refração

Resumo

Este trabalho tem como objetivo projetar, construir e testar um sistema mecatrônico para medir Índices de refração de amostras sólidas transparentes usando o método da profundidade aparente. Através deste método o índice de refração é calculado pela relação entre a profundidade aparente ou espessura óptica da amostra e sua espessura física; a espessura óptica é medida com um microscópio, ajustando-se o foco da imagem do feixe de luz, na amostra. O projeto proposto usará o referido método associado a um sistema mecatrônico que permitirá precisão de 0,001%. Sem o sistema mecatrônico só é possível medir, com precisão da ordem de 1%, índices de amostras com no mínimo 3mm de espessura. Será usado para medir os altos índices (2,5) das amostras de vidro confeccionadas no nosso laboratório com óxidos de metais pesados e óxido de gálio com Bolsa de Iniciação Científica da FAPESP (proc. n. 98/12219-5). Para estas amostras os refratômetros, normalmente usados para vidros de sílica e borato, não servem, pois, só medem valores de até 1,7 daí o motivo do nosso interesse na construção deste sistema. Além disto permitirá ao nosso grupo de pesquisa dominar uma nova técnica de caracterização para as amostras de vidro. (AU)