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Influência da zircônia nas propriedades dielétricas e fotoluminescentes do CaCu3Ti4O12

Processo: 07/54304-0
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Vigência (Início): 01 de março de 2008
Vigência (Término): 28 de fevereiro de 2010
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Química - Físico-química
Pesquisador responsável:Elson Longo da Silva
Beneficiário:Francisco Moura Filho
Instituição-sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:98/14324-0 - Multidisciplinary Center for Development of Ceramic Materials, AP.CEPID
Assunto(s):Dielétricos   Espectroscopia de impedância   Fotoluminescência   Microscopia de força atômica

Resumo

Cerâmicas à base de CaCu3Ti4O12 (CCTO) têm despertado grande interesse cientifico e tecnológico após a descoberta da permissividade dielétrica gigante de aproximadamente 105, principalmente por não apresentar uma transição de fase ferroelétrica ou comportamento relaxor comparado aos demais titanatos. Entretanto, a explicação da origem de ambas as propriedades, ainda não está bem esclarecida, despertando grande interesse entre os pesquisadores. Neste projeto de pesquisa, pretende-se obter a cerâmica CCTO pura e modificada com zircônia pelo método de mistura de óxidos e estudar a fotoluminescência em função do grau de ordem e desordem dos pós preparados pelo método dos precursores poliméricos. Variáveis do processamento (temperatura, m tempo, atmosfera etc.) serão controladas e correlacionadas com as propriedades obtidas. Aliada a essas técnicas, análises por Espectroscopia de Raios-X (XPS - X-Ray Photoelectron Spectropy) e Difração de Raios-X (DRX) permitirão estimar o tipo de defeitos desenvolvidos nas cerâmicas durante o processamento. Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET) será empregada para analisar precipitados nos contornos de grão e pontos triplos. O conjunto das técnicas e microanálises por AFM no interior do grão, no contorno e na região difusa entre eles, poderão fornecer informações importantes para entender a correlação entre a estrutura, microestrutura e as propriedades macroscópicas do material. A espectroscopia no infravermelho permitira analisar os diferentes modos de vibração molecular apresentados pelo material enquanto medidas de fotoluminescência serão coletadas em um fotomultiplicador com laser de comprimento de onda conhecido. A espectroscopia UV-VIS será utilizada para o cálculo do "gap" dos pós amorfos enquanto um analisador de impedância permitirá determinar a permissividade e perda dielétrica em função da freqüência. (AU)