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Propriedades eletrônicas de sistemas de elétrons fortemente correlacionados investigadas por espectroscopia de raios-X

Processo: 03/11096-7
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Vigência (Início): 01 de abril de 2004
Vigência (Término): 31 de maio de 2004
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Helio Cesar Nogueira Tolentino
Beneficiário:Cínthia Piamonteze
Instituição-sede: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS). Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM). Ministério da Ciência, Tecnologia, Inovações e Comunicações (Brasil). Campinas , SP, Brasil
Assunto(s):Radiação síncrotron   Estrutura eletrônica

Resumo

Esse projeto de pós-doutoramento visa o estudo da estrutura eletrônica de sistemas de elétrons fortemente correlacionados através de técnicas de espectroscopia de níveis profundos. Os sistemas a serem estudados, perovskitas de Ni e filmes finos de manganitas, exibem interessantes propriedades eletrônicas em função de temperatura ou aplicação de campo magnético. Tais propriedades não são completamente entendidas até o momento e têm movimentado uma grande frente na área de ciência de materiais. O uso da fonte de luz síncrotron é fundamental para obtermos uma descrição completa da estrutura eletrônica e geométrica destes sistemas complexos. A candidata fará uso da espectroscopia de raios-X com a ajuda de simulações teóricas dos espectros experimentais na busca do entendimento das modificações na estrutura eletrônica desses sistemas com a variação da temperatura e da tensão mecânica interna em filmes finos epitaxiais. (AU)