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Análise estrutural de materiais por difração de raios X

Processo: 99/04019-9
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
Vigência (Início): 01 de agosto de 1999
Vigência (Término): 31 de dezembro de 1999
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Yvonne Primerano Mascarenhas
Beneficiário:Ciro Otavio de Lacerda Badaro
Instituição-sede: Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
Assunto(s):Materiais ferroelétricos   Estrutura cristalina   Análise estrutural   Difração por raios X   Método de Rietveld

Resumo

O projeto visa introduzir o aluno aos conceitos básicos de cristalografia com ênfase em difração de raios X por amostras policristalinas. O aluno deverá inicialmente analisar todos os fatores que afetam o perfil de difração por amostras policristalinas, tanto devido à natureza física e química da amostra como aqueles devidos às características do instrumento de medida. Participará do refinamento de estrutura usando o método de Rietveld aplicado a amostras de materiais cerâmicos ferroelétricos. (AU)