Bolsa 01/09122-4 - Difração por raios X, Textura - BV FAPESP
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Influência de recozimentos intermediários sobre tamanho de grão e textura de recristalização de aços elétricos GNO

Processo: 01/09122-4
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Data de Início da vigência: 01 de novembro de 2001
Data de Término da vigência: 31 de outubro de 2002
Área de conhecimento:Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Metalurgia Física
Pesquisador responsável:Ivan Gilberto Sandoval Falleiros
Beneficiário:Marcos Flavio de Campos
Instituição Sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:99/10796-8 - Otimização da microestrutura, da microtextura e da mesotextura de materiais ferrosos avançados, AP.TEM
Assunto(s):Difração por raios X   Textura
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Difracao De Raios X | Ebsd | Recuperacao | Tamanho De Grao | Textura

Resumo

Aços para fins elétricos GNO (grão não orientado) são um material de grande relevância para a indústria nacional. Entre os maiores desafios quanto a esse material está a dificuldade em conciliar: i) textura ideal {100} <0vw>, ii) tamanho de grão ideal (100-200 microns), iii) espessura fina (0,3-0,5 mm). A textura dos materiais disponíveis comercialmente é bem distante da ideal, o que implica em desperdício de energia. Uma possível maneira de melhorar a textura final é por meio de recozimentos intermediários, sendo que uma das possibilidades é aplicar recuperação previamente à recristalização final. A maneira como a recuperação afeta a seqüência de nucleação é uma questão ainda não resolvida na literatura internacional. Para responder a esta questão, propõe-se estudar o efeito da recuperação sobre as texturas de nucleação e de recristalização (e também sobre o tamanho de grão final). A utilização de EBSD para determinação de textura e de tamanho de grão deverá permitir a obtenção de inéditas informações sobre este assunto. As informações obtidas por meio de EBSD deverão ser complementadas por determinação de textura em goniômetro de textura em difratômetro e estimativa de energia armazenada na deformação por meio de difração de raios-X. (AU)

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Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
DE CAMPOS‚ M.F.; LANDGRAF‚ F.J.G.; FALLEIROS‚ I.G.S.; FRONZAGLIA‚ G.C.; KAHN‚ H.. Texture evolution during the processing of electrical steels with 0.5% Si and 1.25% Si. ISIJ INTERNATIONAL, v. 44, n. 10, p. 1733-1737, . (99/10796-8, 01/09122-4)
DE CAMPOS‚ M.F.; LANDGRAF‚ F.J.G.; TAKANOHASHI‚ R.; CHAGAS‚ F.C.; FALLEIROS‚ I.G.S.; FRONZAGLIA‚ G.C.; KAHN‚ H.. Effect of the hot band grain size and intermediate annealing on the deformation and recrystallization textures in low silicon electrical steels. ISIJ INTERNATIONAL, v. 44, n. 3, p. 591-597, . (99/10796-8, 01/09122-4)