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Aplicação da difração de raios X e nêutrons em materiais cerâmicos ferroelétricos

Processo: 98/13389-1
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Vigência (Início): 01 de janeiro de 1999
Vigência (Término): 30 de novembro de 2000
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Juan Alfredo Guevara Carrió
Beneficiário:Juan Alfredo Guevara Carrió
Instituição-sede: Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
Assunto(s):Cristalografia   Nêutrons   Raios X   Método de Rietveld   Materiais cerâmicos

Resumo

Caracterização estrutural de materiais cerâmicos ferroelétricos sob forma de pós, corpos cerâmicos e filmes finos. Pretende-se, especialmente, caracterizar as soluções sólidas PbTiO3 - PbZrO3, (Sr,Ba)Nb2O6 dopado com terras raras e (Pb,Ba)Nb2O6. Será utilizado o método de Rietveld com difração de raios X de fonte convencional e síncrotron (LNLS). Colaboração na fase de instalação do difratômetro de nêutrons no IPEN e no estabelecimento da metodologia de analise estrutural, evidenciando sua complementaridade com as mesmas técnicas usando raios X. (AU)