Efeito do nióbio nas propriedades físicas do PZT preparados por solução orgânica de citratos

• Processo: 01/02039-4
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado
• Data de Início da vigência: 01 de maio de 2001
• Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 2003
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: José Arana Varela
• Beneficiário: Eder Carlos Ferreira de Souza
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 00/01991-0 - Síntese e caracterização de filmes finos e cerâmicas ferroelétricos, AP.TEM
• Assunto(s): Filmes finos Fotoluminescência Microscopia Propriedades elétricas
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Filmes Finos | Fotoluminescencia | Microscopia | Precursores Polimericos | Propriedades Eletricas

Resumo

Esta pesquisa tem como objetivo preparar e caracterizar filmes finos de PZT e verificar o efeito da adição de nióbio nas propriedades elétricas e ópticas desses filmes, visando a sua aplicação em dispositivos eletro-ópticos e em memórias. A proposta de trabalho envolve a preparação e caracterização de filmes finos de PZT em três composições distintas, com composição Zr/Ti igual a 40/60, 50/50 e 60/40. Serão estudadas composições de PZT puro ou com adição de nióbio. Os filmes serão preparados através de deposição de uma solução orgânica de citratos em substratos de Silício ou Niquelato de Lantânio, utilizando-se a técnica de "dip-coating" ou "spin-coating". Os filmes depositados serão tratados termicamente visando à eliminação do material orgânico e formação da ligação metal-oxigênio. Através de tratamentos térmicos adequados pretende-se obter PZT com fase amorfa. O filme amorfo será caracterizado por espectroscopia Raman para verificar o efeito de fotoluminescência. As propriedades ópticas serão analizadas através de espectroscopia na região do UV-VIS. Estudos de cristalização do filme visam obter a temperatura ótima de tratamento térmico para se obter fases com propriedades elétricas otimizadas. Os filmes serão também caracterizados morfologicamente através de observações por MEV, MET e MFA. (AU)