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Síntese, deposição e caracterização de filmes finos de (Sr, Ba) Nb2O6

Processo: 98/16513-5
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Mestrado
Vigência (Início): 01 de agosto de 1999
Vigência (Término): 31 de julho de 2001
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
Pesquisador responsável:José Antonio Eiras
Beneficiário:Ricardo Gonçalves Mendes
Instituição-sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
Assunto(s):Caracterização   Filmes finos   Materiais ferroelétricos   Niobatos

Resumo

A proposta deste trabalho é a síntese da solução, para deposição de filmes finos ferroelétricos, através de um método químico alternativo que utiliza óxidos como materiais precursores. O método será aplicado ao ((Sr1-x,Bax)Nb2O6; 0,50 ≤ x ≤ 0,75). Este trabalho faz parte de um projeto maior do Grupo de Cerâmicas Ferroelétricas/DF/UFSCar para o desenvolvimento de sensores e atuadores cerâmicos. Os filmes serão depositados por imersão ("dip coating"), ou por centrifugação ("spin coating"). Os Filmes serão caracterizados por DRX, MEV, RBS e espectroscopia de impedância, após tratamentos de cristalização rápidos (RTA) e em forno convencional. (AU)

Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
MENDES‚ RG; SANTOS‚ IA; ARAUJO‚ EB; EIRAS‚ JA. Dielectric Properties of Sr 0.75 Ba 0.25 Nb 2 O 6 Thin Films: Bias Field‚ Frequency and Temperature Dependence. Ferroelectrics, v. 271, n. 1, p. 247-252, 2002.

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