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Dopagem de GeO2 em preforma de sílica vítrea VAD para fibras ópticas: caracterização por espectrometria de fluorescência de Raio X

Processo: 99/02589-2
Linha de fomento:Bolsas no Brasil - Mestrado
Vigência (Início): 01 de julho de 1999
Vigência (Término): 31 de março de 2001
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
Pesquisador responsável:Carlos Kenichi Suzuki
Beneficiário:Edmilton Gusken
Instituição-sede: Faculdade de Engenharia Mecânica (FEM). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Assunto(s):Análise química   Sílica vítrea   Dopagem eletrônica   Deposição axial na fase vapor   Fibra óptica   Espectrometria de fluorescência

Resumo

Para se produzir fibras ópticas de baixa atenuação é necessário que se tenha sílica vítrea de ultra alta pureza, e em fibras mono-modo a dopagem no núcleo da fibra tem a função de diminuir a dispersão do feixe dentro da mesma. Particularmente para o desenvolvimento da tecnologia VAD (Vapor-phase Axial Deposition), no LIQC, Laboratório do Ciclo Integrado de Quartzo da Unicamp, a primeira iniciativa em todo hemisfério Sul, toma-se necessário conhecer o efeito da dopagem do Ge02 durante os diversos estágios do processamento da preforma de fibras ópticas, (deposição, "dehydration" e consolidação). Serão analisados os materiais dopados com Ge02, observando-se o comportamento da concentração, que será efetuada em todas as fases do processo VAD. Usando a técnica de Espectrometria de Fluorescência de Raios-X, sendo os resultados correlacionados com os parâmetros do processo de preparação. (AU)

Publicações acadêmicas
(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)
GUSKEN, Edmilton. Estudo de preformas de silica germania VAD para fibras opticas por FRX e EXEFS. 2001. Dissertação de Mestrado - Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Mecanica.

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