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Johnny Vilcarromero López

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Universidade do Vale do Paraíba (UNIVAP). Instituto de Pesquisa e Desenvolvimento (IP&D)  (Instituição-sede da última proposta de pesquisa)
País de origem: Peru

Bacharel em Física (1989) pela Facultad de Ciencias da Universidad Nacional de Ingenieria, Lima-Perú. Mestrado (1994) e Doutorado (1998) em Física/Ciências pelo Instituto de Física da Universidade Estadual de Campinas. Estágios de pesquisa na Facultad de Física Aplicada y Electronica da Universidad de Barcelona (no doutorado, 9 meses, 1996-1997), na Escola Politécnica da USP (pós-doutorado; 1998-2000) e Faculdade de Ciências na Unesp, campus Bauru (Jovem pesquisador; 2000-2002). Trabalhou na Universidade do Vale do Paraíba (2002-2006) como professor e pesquisador na área de Física Aplicada e Engenharia Biomédica. Como professor adjunto da Faculdade de Ciências Integradas do Pontal na Universidade Federal de Uberlândia (2006-2010). Atualmente é professor adjunto no curso de física da Universidade Federal de São Carlos - Campus de Sorocaba. Possui experiência nas áreas de Física Aplicada e Engenharia Biomédica com ênfase em Ciência de Materiais. Atuando no desenvolvimento de materiais (em especial filmes finos, recobrimentos) para aplicações em Semicondutores, opto-eletrônica, energia fotovoltaica e biomateriais, e no desenvolvimento de orteses para membros superiores. (Fonte: Currículo Lattes)

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Palavras-chave utilizadas pelo pesquisador
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(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

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Dados do Web of Science

VILCARROMERO‚ J.; CARREÑO‚ MNP; PEREYRA‚ I.. Mechanical properties of boron nitride thin films obtained by RF-PECVD at low temperatures. Thin Solid Films, v. 373, n. 1, p. 273-276, . (98/01766-5)

J. VILCARROMERO; M.N.P. CARREÑO; I. PEREYRA; N. C. CRUZ; E.C. RANGEL. Preparation and characterization of nanocrystalline h-BN films prepared by PECVD method. Brazilian Journal of Physics, v. 32, n. 2a, p. 372-375, . (98/01766-5)

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