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Wanderlã Luis Scopel

CV Lattes


Universidade de São Paulo (USP). Instituto de Física (IF)  (Instituição-sede da última proposta de pesquisa)
País de origem: Brasil

Atualmente é professor associado no Departamento de Física da Universidade Federal do Espírito Santo (UFES). Possui graduação em Física pela Universidade Federal do Espírito Santo (1995), mestrado em Física pela Universidade Federal do Espírito Santo (1998) e doutorado em Física pela Universidade de São Paulo (2002). Tem experiência na área de Física da Matéria Condensada, com ênfase em Estrutura Eletrônica e Simulação Computacioanal atomística de Materiais, atuando principalmente nos seguintes temas: Defeitos em materiais semicondutores, superfícies e interfaces. (Fonte: Currículo Lattes)

Bolsas no país
Apoio FAPESP em números * Quantidades atualizadas em 19/10/2019
2 Bolsas no país concluídas

Processos vinculados
Colaboradores mais frequentes em auxílios e bolsas FAPESP
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Palavras-chave utilizadas pelo pesquisador
Publicações resultantes de Auxílios e Bolsas sob responsabilidade do(a) pesquisador(a) (3)

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

PublicaçõesNone
CitaçõesNone
Cit./ArtigoNone
Dados do Web of Science

W.L. SCOPEL; M.C.A. FANTINI; M.I. ALAYO; I. PEREYRA. Local order structure of a-SiOxNy:H grown by PECVD. Brazilian Journal of Physics, v. 32, n. 2a, p. 366-368, . (98/09806-6)

SCOPEL‚ WL; FANTINI‚ MCA; ALAYO‚ MI; PEREYRA‚ I.. Local structure and bonds of amorphous silicon oxynitride thin films. Thin Solid Films, v. 413, n. 1, p. 59-64, . (98/09806-6)

SCOPEL‚ WL; FANTINI‚ MCA; ALAYO‚ MI; PEREYRA‚ I.. Structural investigation of Si-rich amorphous silicon oxynitride films. Thin Solid Films, v. 425, n. 1, p. 275-281, . (98/09806-6, 01/06516-1)

Publicações acadêmicas

(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)

SCOPEL, Wanderlã Luis. Estudo das propriedades químicas, morfológicas e estruturais de oxinitreto de silício depositado por PECVD. 2002. Tese (Doutorado) – Instituto de Física. Universidade de São Paulo (USP). São Paulo. (98/09806-6)

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