possui graduação (1987), mestrado (1990) e doutorado (1994) em Física pela Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP), com pós-doutorado na Carnegie Mellon University, Dept. of Materials Science & Engineering (MS&E/CMU) e no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS). Participou do PROGRAMA DE ESTÁGIO SÊNIOR NO EXTERIOR com apoio da CAPES, atuando como pesquisador visitante (2017-2018) na University of Guelph, Canadá. Atualmente é professor associado no Instituto de Física da Universidade de São Paulo (IF/USP). Área do conhecimento: Estrutura de Líquidos e Sólidos; Cristalografia, tendo atuando principalmente nos seguintes temas: física de raios X, radiação síncrotron, materiais cristalinos (monocristais), filmes finos amorfos, dispositivos semicondutores nanoestruturados (camadas epitaxiais, superredes, pontos quânticos), imageamento por raios X de tecidos biológicos (oftalmologia, catarata). Atualmente trabalha no desenvolvimento do método de medir fases baseado na difração dinâmica de raios X, com aplicações tanto em Ciências da Vida como em Ciências dos Materiais. Os estudos abrangem refinamento e determinação absoluta de moléculas biológicas, danos por radiação em ligações de hidrogênio entre moléculas de aminoácidos, e efeitos de dopagem com íons metálicos em cristais ópticos não lineares, Materiais magnéticos e isolantes topológicos também estão sendo estudados. Trabalhos de instrumentação com detetores de área para estudos de filmes epitaxiais nanoestruturados e também refinamento da estrutura de monocristais. Autor do livro "Computer Simulation Tools for X-ray Analysis: scattering and diffraction methods" (http://www.springer.com/us/book/9783319195537) publicado pela Editora Springer na série Graduate Texts in Physics, voltada a cursos de pós-graduação. Após retorno a USP no final de 2018, orienta um doutorado e três alunos de graduação, e atualmente expande as linhas de pesquisa para materiais termoelétricos e estudos in situ de processos de cristalização de nanopartículas, além de se aprofundar no estudo da dinâmica de defeitos em filmes epitaxiais de isolantes topológicos. (Fonte: Currículo Lattes)
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A cristalografia de raios X é a mais premiada área da física aplicada em razão da importância de estudar a estrutura atômica tanto dos materiais como de sistemas biológicos. Com grandes investimentos em fontes avançadas de radiação, bem como o advento de materiais e dispositivos provenientes de novas tecnologias, desenvolver e aprimorar metodologias e formar pesquisadores com profundo con…
A cristalografia de raios-X é a mais premiada área da física aplicada em razão da importância de estudar a estrutura atômica tanto de materiais como de sistemas biológicos. Com grandes investimentos em novas fontes de radiação, bem como o advento de materiais e dispositivos oriundos de novas tecnologias, a necessidade de desenvolver novas metodologias e de orientar pesquisadores com profu…
Um fenômeno pouco conhecido denominado espalhamento difuso múltiplo (EDM) pode ser observado quando o espalhamento difuso proveniente do interior de um cristal se sobressai ao espalhamento difuso produzido na superfície de entrada dos raios X no material. O espalhamento difuso geral tem origem nas inomogeneidades da rede cristalina, daí a necessidade de usar feixes com seção transversa pe…
A difração dinâmica de raios X oferece possibilidades inéditas em termos de resolução estrutural. Entretanto, a técnica de medir difrações simultâneas é limitada pela necessidade de prever com antecedência as condições experimentais ideias para resolver os detalhes estruturais relevantes às propriedades dos sistemas; detalhes esses inacessíveis por métodos convencionais. A partir de varia…
A difração dinâmica de raios-X oferece possibilidades inéditas em termos de resolução estrutural. Mas, a aplicação da técnica de medir difrações simultâneas é limitada pela necessidade de prever de antemão as condições experimentais ideias que permitam resolver os detalhes estruturais relevantes às propriedades dos sistemas investigados; detalhes esses inacessíveis por métodos convenciona…
Este projeto tem como objetivo investigar as propriedades físicas de materiais complexos, com foco principalmente naquelas relacionadas à performance termoelétrica, tais como resistividade elétrica, calor específico, coeficiente Seebeck, condutividade térmica e relação de dispersão de fônons. Os fônons, em particular, serão investigados através do espalhamento difuso térmico de raios X sí…
A cristalografia de raios X é a mais premiada área da física aplicada em razão da importância de estudar a estrutura atômica tanto de materiais como de sistemas biológicos. Com o advento de novas fontes de radiação, bem como de materiais e dispositivos oriundos de novas tecnologias, a necessidade de desenvolver novas metodologias e formar pesquisadores com profundo conhecimento dos proces…
Diferentemente da radiografia clínica, onde somente o processo de absorção fotoelétrica é responsável pelo contraste das imagens, o imageamento por raios X síncrotron fornece informações de outros processos de interação radiação-matéria: refração e espalhamento à baixo ângulo. Nos principais laboratórios síncrotrons do mundo existem estações experimentais otimizadas para técnicas de image…
A visão dos mamíferos em geral é susceptível a uma variedade de doenças. Este projeto de pesquisa visa estudar, via imageamento de raios X, as alterações sofridas em tecidos oculares patológicos. No método de imageamento utilizado, limitações comuns às microscopias de luz e de elétron são superadas pela discriminação seletiva dos processos distintos de interação da radiação X com os tecid…
CV Lattes
ORCID