Resumo
Neste projeto, pretende-se estudar as propriedades de uma nova geração de gráficos de Shewhart, destinados ao monitoramento de processos de produção em que a qualidade dos itens produzidos é avaliada pelos valores de uma característica mensurável X. Por exemplo, na produção de eixos, os valores de X são as medidas dos diâmetros. Para esta nova geração de gráficos de Shewhart, propor-se q…