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(Referência obtida automaticamente do Web of Science, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Determination of Elemental Content in Solder Mask Samples Used in Printed Circuit Boards Using Different Spectroanalytical Techniques

Texto completo
Autor(es):
Speranca, Marco Aurelio [1] ; Virgilio, Alex [1] ; Pereira-Filho, Edenir Rodrigues [1] ; Batista de Aquino, Francisco Wendel [1]
Número total de Autores: 4
Afiliação do(s) autor(es):
[1] Univ Fed Sao Carlos UFSCar, Dept Quim, GAIA, POB 676, BR-13565905 Sao Carlos, SP - Brazil
Número total de Afiliações: 1
Tipo de documento: Artigo Científico
Fonte: Applied Spectroscopy; v. 72, n. 8, p. 1205-1214, AUG 2018.
Citações Web of Science: 4
Resumo

Solder masks are essential materials used in the manufacture of printed circuit boards (PCB). This material protects PCBs against several types of damage and performance failure. In this study, the capabilities of laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) were investigated for the direct analysis of solder masks typically commercialized for homemade PCB production, and inductively coupled plasma-optical emission spectrometry (ICP-OES) was used to obtain a chemical profile for the target analytes Al, As, Ba, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, Mg, Mn, Ni, Pb, Sb, Sn, and Zn. Inductively coupled plasma-mass spectrometry (ICP-MS) was also employed for the determination of potentially toxic elements, such as As, Cd, Cr, Pb, and Hg. In addition to the qualitative information that may be useful for obtaining the spectral profile related to the raw materials present in solder masks formulations, LIBS was also applied for major elements (Al, Ba, Cu, Fe, Mg, and Zn) determination, but due to the low sensitivity, the obtained results were only semi-quantitative for Ba. Regarding Cd, Cr, Hg, and Pb, the samples analyzed were following the restriction of hazardous substances (RoHS) directive of the European Union. (AU)

Processo FAPESP: 14/18393-1 - Avaliação da análise em fluxo por gradiente como estratégia de calibração para técnicas espectroanalíticas com fonte de plasma
Beneficiário:Alex Virgilio
Linha de fomento: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Processo FAPESP: 16/01513-0 - Combinação de LIBS (Laser-Induced Breakdown Spectroscopy) e ICP OES (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry) na análise de amostras de resíduo eletrônico (circuito eletrônico e polímeros), alimentos e líquidas de difícil preparação
Beneficiário:Edenir Rodrigues Pereira Filho
Linha de fomento: Auxílio à Pesquisa - Regular
Processo FAPESP: 13/04688-7 - Desenvolvimento de métodos espectroanalíticos para a determinação direta de elementos tóxicos em materiais poliméricos de lixo eletrônico por emissão em plasma induzido por laser (LIBS)
Beneficiário:Francisco Wendel Batista de Aquino
Linha de fomento: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado