Luiz Fernando Zagonel
CV Lattes
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Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW) (Instituição Sede da última proposta de pesquisa) País de origem: Brasil
Possui formação em Física com ênfase em Física Experimental e Instrumentação. Atualmente é Professor Associado na Universidade Estadual de Campinas. Tem experiência microscopia eletrônica (SEM e TEM) e microscopia de ponta de prova (AFM e STM) tendo desenvolvido e patenteado sistemas de coleção de luz para microscópios. Atua principalmente em Técnicas de Microscopia, Materiais Semicondutores e Nanotecnologia sob a perspectiva de Física Aplicada. (Fonte: Currículo Lattes)
| Matéria(s) publicada(s) na Revista Pesquisa FAPESP sobre o(a) pesquisador(a): |
| Lentes más nítidas |
| Un sistema inédito mejora el rendimiento de un microscopio con resolución atómica |
| Sistema inédito melhora desempenho de microscópio com resolução atômica |
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| Novo equipamento impacta mercado internacional de microscópios |
| Pesquisa feita na Unicamp possibilita o desenvolvimento futuro de LEDs de luz ultravioleta |
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| Matéria(s) publicada(s) na Agência FAPESP sobre o(a) pesquisador(a) |
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| Matéria(s) publicada(s) em Outras Mídias ( ): |
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| VEICULO: TITULO (DATA) |
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- Heteroestruturas em nanofios semicondutores: emissores de luz nanométricos estudados por microscopia de varredura de tunelamento, AP.JP
- Estudos de propriedades óticas na escala nanométrica via catodoluminescência com alta resolução espacial, AV.EXT
- 19th international Vacuum Congress 2013 (IVC-19/ICSS-15 and ICN+T 2013), AR.EXT
- Apoio às atividades de Pesquisa do projeto Materiais opticamente ativos estudados por microscopia de varredura de tunelamento, BP.TT
- Emissores de fótons individuais baseados em defeitos no hBN, BP.MS
- Materiais opticamente ativos estudados por Microscopia de Varredura de Tunelamento, BP.PD
- Fontes de luz quântica acionadas eletricamente exploradas em escala atômica, BE.EP.MS
- Emissão de fótons individuais a partir de defeitos pontuais e hot spots induzidos pelo substrato em semicondutores bidimensionais: um estudo via luminescência induzida em microscopia de varredura de tunelamento, BE.EP.DR
- Espectroscopia de emissão e absorção de defeitos pontuais em escalas nanométricas e sub-nanométricas, BE.EP.MS