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Construção de sistema para controle de qualidade de estruturas do tipo Thick-GEM

Processo: 16/23355-7
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
Data de Início da vigência: 01 de dezembro de 2016
Data de Término da vigência: 30 de novembro de 2017
Área de conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física Nuclear
Pesquisador responsável:Pedro Hugo Ferreira Natal da Luz
Beneficiário:Lucas de Arruda Serra Filho
Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:16/05282-2 - Desenvolvimento e aplicações de detectores gasosos baseados em microestruturas, AP.JP
Assunto(s):Detectores de radiação   Radiação ionizante   Controle da qualidade
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:detectores de radiacão | Gas Electron Multiplier | Micropattern Gaseous Detectors | Instrumentação

Resumo

Os Thick-GEMs são estruturas do tipo Micropattern Gaseous Detectors - MPGD - que consistem em placas de circuito impresso com a espessura de 0.5mm, com furos de cerca de 0.5 mm dispostos numa matriz hexagonal e com uma distância de cerca de 1 mm (centro a centro) entre eles. O seu funcionamento como detectores de radiação consiste em imergi-los numa mistura gasosa adequada e aplicando uma diferença de potencial entre as duas faces que gera um campo elétrico no interior dos furos. Se este campo elétrico for suficientemente alto, poderá ocorrer a multiplicação de elétrons gerados pela passagem de radiação ionizante. Esta arquitetura tem a vantagem de poder ser usada em cascata, sendo que a carga amplificada por um Thick-GEM poderá ser amplificada por um segundo Thick-GEM, e assim sucessivamente. Os Thick-GEMs desenhados pelo HEPIC@USP e produzidos com recurso à Indústria Brasileira serão sujeitos a um controle de qualidade que passará pela inspeção óptica de cada peça, pela medida das correntes de fuga em atmosfera controlada, pela determinação do limiar de descarga e pela documentação de todos os dados referentes a cada estrutura para posterior referência. A aferição da qualidade de cada lote de protótipos será imprescindível para os melhoramentos a executar até ao estabelecimento de uma certa geometria, mas também servirá para manter o padrão na qualidade da produção, pois permite uma comparação direta entre estruturas diferentes, sem a necessidade de as instalar num detector. (AU)

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Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
NATAL DA LUZ, H.; BHATTACHARYA, P.; FILHO, L. A. S.; FRANCA, L. E. F. M.. Ion backflow studies with a triple-GEM stack with increasing hole pitch. Journal of Instrumentation, v. 13, . (16/23355-7, 16/05282-2)